Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs (Paperback)

Langue : anglais

Edité par Cambridge University Press, Cambridge, 2011

0521336171 / 9780521336178

Série : Livre 1 sur 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering

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Paperback. This book is a comprehensive exposition of FET modeling, and is a must-have resource for seasoned professionals and new graduates in the RF and microwave power amplifier design and modeling community. In it, you will find descriptions of characterization and measurement techniques, analysis methods, and the simulator implementation, model verification and validation procedures that are needed to produce a transistor model that can be used with confidence by the circuit designer. Written by semiconductor industry professionals with many years' device modeling experience in LDMOS and III-V technologies, this was the first book to address the modeling requirements specific to high-power RF transistors. A technology-independent approach is described, addressing thermal effects, scaling issues, nonlinear modeling, and in-package matching networks. These are illustrated using the current market-leading high-power RF technology, LDMOS, as well as with III-V power devices. This book was the first to be devoted to the compact modeling of RF power FETs. In it, you will find the techniques, verification and validation procedures required to produce a transistor model. The text also contains real-world examples. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.

N° de réf. du vendeur 9780521336178

Titre
Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs (Paperback)
Auteur
Peter Aaen
Éditeur
Cambridge University Press, Cambridge
Année de publication
2011
État de l'article
new
Reliure
Paperback
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0521336171
ISBN à 13 chiffres
9780521336178
Série
Livre 1 sur 20: Cambridge RF and Microwave Engineering

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