Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

Langue : anglais

Edité par Springer, Springer Mär 2012, 2012

146142190X / 9781461421900

Série : Livre 25 sur 60 - Nanostructure Science and Technology

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 192 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9781461421900

Titre
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Auteur
Thomas Vogt
Éditeur
Springer, Springer Mär 2012
Année de publication
2012
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
146142190X
ISBN à 13 chiffres
9781461421900
Poids de l'article
459 grammes
Dimensions
241x160x14 mm
Série
Livre 25 sur 60: Nanostructure Science and Technology

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