Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings

Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)

ISBN 10: 354044016X ISBN 13: 9783540440161
Edité par Springer, 2002
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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