Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation

Deshayes, Yannick; Bechou, Laurent

ISBN 10: 1785481525 ISBN 13: 9781785481529
Edité par ISTE Press - Elsevier, 2016
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

Vendu par Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 22 novembre 2018

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Neuf(s) - Couverture rigide

Etat : Neuf

Prix:
EUR 102,16
Expédition à EUR 3,42
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : 3 disponible(s)

Ajouter au panier