Titre: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
�diteur: Springer
Date de parution: 1992
Langue: anglais
ISBN � 10 chiffres: 0306441756
ISBN � 13 chiffres: 9780306441752
Reliure: hardcover
�dition: 2�me �dition
�tat de l'article: new

A propos de ce titre

Synopsis

Book by Goldstein Joseph Newbury Dale E Echlin Patrick Joy

Les informations fournies dans la section � A propos du livre � peuvent faire r�f�rence � une autre �dition de ce titre.

Description de la librairie

Visitez la page d�accueil du vendeur

Informations commerciales relatives au vendeur

DeckleEdge LLC
2101 Sea Breeze St NW, Albuquerque, NM, 87120-3325, U.S.A.

Conditions de vente et de livraison

Conditions g�n�rales de vente

Droit de r�tractation

Conditions d'exp�dition

Frais d?exp�dition � l?int�rieur de ce pays�: Etats-Unis

Frais d?exp�dition � l?int�rieur de ce pays�: Etats-Unis
Quantit� command�e	5 � 14 jours ouvr�s	3 � 6 jours ouvr�s
Premier article	EUR 0.00	EUR 6.46

Les d�lais de livraison sont fix�s par les vendeurs et varient en fonction du transporteur et du lieu. Les commandes transitant par les douanes peuvent �tre retard�es et les acheteurs sont responsables de tous les droits ou frais associ�s. Les vendeurs peuvent vous contacter au sujet de frais suppl�mentaires afin de couvrir toute augmentation des co�ts d'exp�dition de vos articles.