Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces - Oxford Series in Optical and Imaging Sciences - Revised Edition

Langue : anglais

Edité par Oxford University Press, New York, 1994

019509204X / 9780195092042

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263 Pages Indexed. Solid book in great condition. High interest and major advances in the technology of scanning force microscopy that have taken place since the 1991 release has made this Revised Edition necessary. The tenth anniversary of Scanning Tunneling Microscopy, celebrated at the Sixth International Conference on Scanning Tunneling Microscopy in Interlaken, Switzerland August 12-16, 1991, with more than one thousand participants, produced three volumes of papers that attest to the ever-growing interest in this technology. As the field of scanning force microscopy has matured, a gradual shift in gears has taken place, from activities involving the development of instruments to their use as probes in a large rainbow of disciplines. Therefore, this new print, which includes all the material contained in the first print, additionally has the latest available list of new references that deal with electric, magnetic, and atomic force microscopy. It should also be noted that several scanning force microscopy related reviews have appeared, some of which present detailed information on specialized topics. Contents in 13 Chapters: Mechanical Properties of Levers, Resonance Enhancement, Sources of Noise, Tuneling Detection System, Capacitance Detection System, Homodyne Detection System, Heterodyne Detection System, Laser-Diode Feedback Detection System, Polarization Detection System, Deflection System, Electric Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, and Atomic Force Microscopy.

N° de réf. du vendeur 16182

Titre
Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces - Oxford Series in Optical and Imaging Sciences - Revised Edition
Auteur
Sarid, Dror
Éditeur
Oxford University Press, New York
Année de publication
1994
État de l'article
Very Good
Jaquette
No Dust Jacket
Reliure
Hard Back
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
019509204X
ISBN à 13 chiffres
9780195092042
Édition
Revised Edition - Third Printing
Dimensions
6 1/4" X 9 1/2"

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