Scanning Probe Microscopy

Langue : anglais

Edité par Intechopen Apr 2012, 2012

9535105760 / 9789535105763

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy. 256 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9789535105763

Titre
Scanning Probe Microscopy
Auteur
Vijay Nalladega
Éditeur
Intechopen Apr 2012
Année de publication
2012
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
9535105760
ISBN à 13 chiffres
9789535105763
Poids de l'article
769 grammes
Dimensions
266x185x22 mm

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