Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45

Reimer, Ludwig:

ISBN 10: 3540639764 / ISBN 13: 9783540639763

Edité par Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998

A propos de cet article

XIV, 527 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 882.

N° de réf. du vendeur 114822

Détails bibliographiques

• Titre: Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
• Éditeur: Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer
• Date de parution: 1998
• Langue: anglais
• ISBN à 10 chiffres: 3540639764
• ISBN à 13 chiffres: 9783540639763
• Reliure: Pp.
• Édition: 2., completely rev. and updated ed.
• Poids: 882 grammes
• Catalogues du vendeur:
  • Physik

A propos de ce titre

Synopsis

This book provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channeling effects and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.