System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Volume .) (Systems on Silicon, Volume .)

Wang, Laung-Terng

ISBN 10: 012373973X ISBN 13: 9780123739735
Edité par Morgan Kaufmann, 2007
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

Vendu par GoldBooks, Denver, CO, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 15 mai 2019

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Neuf(s) - Couverture rigide

Etat : Neuf

Prix:
EUR 106,05
Expédition à EUR 4,75
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier