Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

James Howe

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Langue : anglais

Edité par Springer Berlin Heidelberg Nov 2014, 2014

3642433154 / 9783642433153

Série : Livre 38 sur 126 - Graduate Texts in Physics

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. 784 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9783642433153

Titre
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Auteur
James Howe
Éditeur
Springer Berlin Heidelberg Nov 2014
Année de publication
2014
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3642433154
ISBN à 13 chiffres
9783642433153
Édition
4ème Édition
Poids de l'article
1 165 grammes
Dimensions
235x155x42 mm
Série
Livre 38 sur 126: Graduate Texts in Physics

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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