X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors

Langue : anglais

Edité par Springer Berlin Heidelberg Nov 2014, 2014

3662443619 / 9783662443613

Série : Livre 175 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research. 380 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9783662443613

Titre
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Auteur
Mark C. Ridgway
Éditeur
Springer Berlin Heidelberg Nov 2014
Année de publication
2014
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3662443619
ISBN à 13 chiffres
9783662443613
Poids de l'article
735 grammes
Dimensions
241x160x26 mm
Série
Livre 175 sur 235: Springer Series in Optical Sciences

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