Dehm gerhard (11 résultats)
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In-situ Electron Microscopy : Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
Dehm, Gerhard (EDT); Howe, James M. (EDT); Zweck, Josef (EDT)
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In-situ Electron Microscopy : Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
Dehm, Gerhard (EDT); Howe, James M. (EDT); Zweck, Josef (EDT)
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In-situ Electron Microscopy : Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
Dehm, Gerhard (EDT); Howe, James M. (EDT); Zweck, Josef (EDT)
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In-situ Electron Microscopy : Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
Dehm, Gerhard (EDT); Howe, James M. (EDT); Zweck, Josef (EDT)
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Hardback. Etat : New. Von den Grundlagen über das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Phänomenen bis hinunter zum Nanomaßstab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen Überblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; außerdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung.…
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Gebunden. Etat : New. Professor Gerhard Dehm is the department head of Materials Physics at the Montanuniversitaet Leoben, Austria, and director of the Erich Schmid Institute of Materials Science from the Austrian Academy of Sciences. He has worked previously at the Max-Planck-In.
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Hardback. Etat : New. Von den Grundlagen über das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Phänomenen bis hinunter zum Nanomaßstab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen Überblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; außerdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung.…
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