Kratzer meredith (18 résultats)

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer London, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Vendeur : Buchpark, Trebbin, AllemagneBuchpark

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    Etat: Occasion - Très bon

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    Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 308 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Defects in semiconductors have been studied for many years, in many cases with a view toward controlling their behaviour through various forms of ¿defect engineering¿. For example, in the bulk, charging significantly affects the total concentration of defects that are available to mediate phenomena such as solid-state diffusion. Surface defects play an important role in mediating surface mass transport during high temperature processing steps such as epitaxial film deposition, diffusional smoothing in reflow, and nanostructure formation in memory device fabrication. ¿Charged Defects in Semiconductors¿ details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors. Features: group IV, III-V, and oxide semiconductors; intrinsic and extrinsic defects; and, point defects, as well as defect pairs, complexes and clusters.…

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Vendeur : Books Puddle, Woodside, NY, Etats-UnisBooks Puddle

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    EUR 3,52 expédition 
    Expédition nationale : Etats-Unis

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    Etat : New. pp. 310.

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Vendeur : Books Puddle, Woodside, NY, Etats-UnisBooks Puddle

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    Etat: Neuf

    EUR 219,68

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    Expédition nationale : Etats-Unis

    Quantité disponible : 4 disponibles

    Etat : New. pp. 310.

  • Langue : anglais

    Edité par Springer Verlag, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books

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    Hardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 294 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books

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    Edité par Springer, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books

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    Edité par Springer London Okt 2010, 2010

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    Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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    Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Defects in semiconductors have been studied for many years, in many cases with a view toward controlling their behaviour through various forms of 'defect engineering'. For example, in the bulk, charging significantly affects the total concentration of defects that are available to mediate phenomena such as solid-state diffusion. Surface defects play an important role in mediating surface mass transport during high temperature processing steps such as epitaxial film deposition, diffusional smoothing in reflow, and nanostructure formation in memory device fabrication. 'Charged Defects in Semiconductors' details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors. Features: group IV, III-V, and oxide semiconductors; intrinsic and extrinsic defects; and, point defects, as well as defect pairs, complexes and clusters. 308 pp. Englisch.…

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    Edité par Springer London Dez 2008, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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    Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Defects in semiconductors have been studied for many years, in many cases with a view toward controlling their behaviour through various forms of 'defect engineering'. For example, in the bulk, charging significantly affects the total concentration of defects that are available to mediate phenomena such as solid-state diffusion. Surface defects play an important role in mediating surface mass transport during high temperature processing steps such as epitaxial film deposition, diffusional smoothing in reflow, and nanostructure formation in memory device fabrication. 'Charged Defects in Semiconductors' details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors. Features: group IV, III-V, and oxide semiconductors; intrinsic and extrinsic defects; and, point defects, as well as defect pairs, complexes and clusters. 308 pp. Englisch.…

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    Edité par Springer London, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna

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    Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Details the current state of knowledge regarding the properties of ionized defects in advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensorsEdmund Seebauer is currently Head of Chemical and Biomolecular Engineering.…

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    Edité par Springer London, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Details the current state of knowledge regarding the properties of ionized defects in advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensorsEdmund Seebauer is currently Head of Chemical and Biomolecular Engineering.…

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    Edité par Springer London, Springer Dez 2008, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000

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    Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Defects in semiconductors have been studied for many years, in many cases with a view toward controlling their behaviour through various forms of ¿defect engineering¿. For example, in the bulk, charging significantly affects the total concentration of defects that are available to mediate phenomena such as solid-state diffusion. Surface defects play an important role in mediating surface mass transport during high temperature processing steps such as epitaxial film deposition, diffusional smoothing in reflow, and nanostructure formation in memory device fabrication. ¿Charged Defects in Semiconductors¿ details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors. Features: group IV, III-V, and oxide semiconductors; intrinsic and extrinsic defects; and, point defects, as well as defect pairs, complexes and clusters.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 308 pp. Englisch.…

  • Langue : anglais

    Edité par Springer London, Springer London Okt 2010, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000

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    EUR 60,00 expédition 
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  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books

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    EUR 227,06

    EUR 7,58 expédition 
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    Etat : New. Print on Demand pp. 310 90 Illus.

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books

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    Etat: Neuf

    EUR 228,54

    EUR 7,58 expédition 
    Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

    Quantité disponible : 4 disponibles

    Etat : New. Print on Demand pp. 310 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios

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    EUR 227,02

    EUR 9,95 expédition 
    Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

    Quantité disponible : 4 disponibles

    Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 310.

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    EUR 228,32

    EUR 9,95 expédition 
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    Quantité disponible : 4 disponibles

    Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 310.