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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Vendeur : Budget Books, Pasadena, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 10,54
Autre deviseEUR 20,46 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fair. No Jacket. 1st Edition. This book is seriously flawed by the fact that pages 289 to 307 function as an insert. They are completely separated from the binding. But the book is all there and is otherwise in new condition. There are no tears or signs of wear to the clean pages or the cover.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 57,95
Autre deviseEUR 4,57 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 54,39
Autre deviseEUR 10,14 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 3 disponible(s)
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 59,70
Autre deviseEUR 6,82 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Vendeur : World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 37,22
Autre deviseEUR 29,84 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Item in good condition and has highlighting/writing on text. Used texts may not contain supplemental items such as CDs, info-trac etc.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 53,73
Autre deviseEUR 17,04 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 64,94
Autre deviseEUR 7,67 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Vendeur : Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 48,28
Autre deviseEUR 25,56 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. SUPER FAST SHIPPING.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 64,76
Autre deviseEUR 7,95 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 3 disponible(s)
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 57,70
Autre deviseEUR 17,18 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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INFLUENCE OF TEMPERATURE ON MICROELECTRONICS AND SYSTEM RELIABILITY
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 75,11
Autre deviseEUR 2,86 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 60,86
Autre deviseEUR 17,04 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 65,74
Autre deviseEUR 17,18 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Vendeur : ALLBOOKS1, Direk, SA, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 88,89
Autre deviseGratuit expédition depuis Australie vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBrand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 82,02
Autre deviseEUR 11,45 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 336 pages. 10.00x7.01x0.67 inches. In Stock.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 52,68
Autre deviseEUR 63,93 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 37,21
Autre deviseEUR 89,51 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 37,23
Autre deviseEUR 89,51 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 159,97
Autre deviseEUR 7,67 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 336 1st Edition.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 167,35
Autre deviseEUR 10,87 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 5 disponible(s)
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EUR 48,11
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. HakimThis book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effec.
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Influence of Temperature on Microelectronics System Reliability
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 150,30
Autre deviseEUR 10,14 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 336 400 equations This item is printed on demand.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 172,88
Autre deviseEUR 7,95 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 336.
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EUR 221,63
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Lall, Pradeep Pecht, Michael Hakim, Edward B.This book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effects of o.
