Rodbell kenneth (17 résultats)
Materials Reliability in Microelectronics III
Rodbell, Kenneth P. (EDT); Filter, William F. (EDT); Frost, Harold J. (EDT); Ho, Paul S. (EDT)
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Materials Reliability in Microelectronics III
Rodbell, Kenneth P. (EDT); Filter, William F. (EDT); Frost, Harold J. (EDT); Ho, Paul S. (EDT)
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Materials Reliability in Microelectronics III
Rodbell, Kenneth P. (EDT); Filter, William F. (EDT); Frost, Harold J. (EDT); Ho, Paul S. (EDT)
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Materials Reliability in Microelectronics III
Rodbell, Kenneth P. (EDT); Filter, William F. (EDT); Frost, Harold J. (EDT); Ho, Paul S. (EDT)
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Materials Reliability in Microelectronics III
Ho Paul S. Frost Harold J. Filter William F. Rodbell Kenneth P.
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.KlappentextThe MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research.…
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Taschenbuch. Etat : Neu. Materials Reliability in Microelectronics III | Volume 309 | Kenneth P. Rodbell (u. a.) | Taschenbuch | Kartoniert / Broschiert | Englisch | 2012 | Cambridge University Press | EAN 9781107409484 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.…
