Scanning electron microscopy intl (1 résultats)

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Electron Beam Interactions With Solids for Microscopy, Microanalysis, and Microlithography: Proceedings of the First Pfefferkorn Conference
David F. Kyser (Et Al)
Langue : anglais
Edité par Scanning Electron Microscopy Intl, 1984
0931288304 / 9780931288302
- Couverture rigide
Vendeur : David's Books, ypsilanti, MI, Etats-UnisDavid's Books
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