Springer series in optical sciences - 9780387400938 - transmission electron microscopy: physics of image formation par reimer, ludwig; kohl, helmut (10 résultats)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2008
Série : Livre 41 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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hardcover. Etat : Befriedigend. 606 Seiten; 9780387400938.4 Gewicht in Gramm: 2.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2008
Série : Livre 41 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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EUR 125,45
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hardcover. Etat : Fine.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2008
Série : Livre 41 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2008
Série : Livre 41 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2008
Série : Livre 41 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2008
Série : Livre 41 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 2,27 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2008
Série : Livre 41 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-UnisCalifornia Books
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2008
Série : Livre 41 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer-Verlag New York Inc., US, 2008
Série : Livre 41 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-UniRarewaves.com USA
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Hardback. Etat : New. Fifth Edition 2008. The aim of this monograph is to outline the physics of image formation, electron-specimen interactions, and image interpretation in transmission el- tron microscopy. Since the last edition, transmission electron microscopy has undergone a rapid evolution. The introduction of monochromato…rs and - proved energy ?lters has allowed electron energy-loss spectra with an energy resolution down to about 0.1 eV to be obtained, and aberration correctors are now available that push the point-to-point resolution limit down below 0.1 nm. After the untimely death of Ludwig Reimer, Dr. Koelsch from Springer- Verlag asked me if I would be willing to prepare a new edition of the book. As it had served me as a reference for more than 20 years, I agreed without hesitation. Distinct from more specialized books on speci?c topics and from books intended for classroom teaching, the Reimer book starts with the basic principles and gives a broad survey of the state-of-the-art methods, comp- mented by a list of references to allow the reader to ?nd further details in the literature. The main objective of this revised edition was therefore to include the new developments but leave the character of the book intact. The presentation of the material follows the format of the previous e- tion as outlined in the preface to that volume, which immediately follows. A few derivations have been modi?ed to correspond more closely to modern textbooks on quantum mechanics, scattering theory, or solid state physics.
Langue : anglais
Edité par Springer-Verlag New York Inc., US, 2008
Série : Livre 41 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-UniRarewaves.com UK
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Hardback. Etat : New. Fifth Edition 2008. The aim of this monograph is to outline the physics of image formation, electron-specimen interactions, and image interpretation in transmission el- tron microscopy. Since the last edition, transmission electron microscopy has undergone a rapid evolution. The introduction of monochromato…rs and - proved energy ?lters has allowed electron energy-loss spectra with an energy resolution down to about 0.1 eV to be obtained, and aberration correctors are now available that push the point-to-point resolution limit down below 0.1 nm. After the untimely death of Ludwig Reimer, Dr. Koelsch from Springer- Verlag asked me if I would be willing to prepare a new edition of the book. As it had served me as a reference for more than 20 years, I agreed without hesitation. Distinct from more specialized books on speci?c topics and from books intended for classroom teaching, the Reimer book starts with the basic principles and gives a broad survey of the state-of-the-art methods, comp- mented by a list of references to allow the reader to ?nd further details in the literature. The main objective of this revised edition was therefore to include the new developments but leave the character of the book intact. The presentation of the material follows the format of the previous e- tion as outlined in the preface to that volume, which immediately follows. A few derivations have been modi?ed to correspond more closely to modern textbooks on quantum mechanics, scattering theory, or solid state physics.
