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9781441982964 - Test and Diagnosis for Small-Delay Defects de Tehranipoor, Mohammad; Peng, Ke; Chakrabarty, Krishnendu (12 résultats)
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 119,17
Expédition à EUR 2,29
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 136,05
Expédition à EUR 2,29
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 121,04
Expédition à EUR 17,34
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 124,71
Expédition à EUR 17,34
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 151,91
Expédition à EUR 13,85
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 153,68
Expédition à EUR 14,45
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 212 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Langue: anglais
Edité par Springer New York, Springer New York, 2011
ISBN 10 : 1441982965 ISBN 13 : 9781441982964
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 111,53
Expédition à EUR 62,59
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Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects (eng)
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 3 sur 5 étoiles
EUR 86,24
Expédition à EUR 5,50
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Langue: anglais
Edité par Springer New York, Springer New York Sep 2011, 2011
ISBN 10 : 1441982965 ISBN 13 : 9781441982964
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,99
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise. 232 pp. Englisch.
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EUR 89,99
Expédition à EUR 48,99
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Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an introduction to VLSI testing and diagnosis, with a focus on delay testing and small-delay defects Presents the most effective techniques for screening small-delay defects, such as long path-based, slack-based, critical fault-based, and.
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EUR 93,35
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Test and Diagnosis for Small-Delay Defects | Mohammad Tehranipoor (u. a.) | Buch | xviii | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441982964 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Langue: anglais
Edité par Springer, Springer Sep 2011, 2011
ISBN 10 : 1441982965 ISBN 13 : 9781441982964
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,99
Expédition à EUR 60
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Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 232 pp. Englisch.
