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9781848219366 - Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light de Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak (19 résultats)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 146,74
Expédition à EUR 2,24
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 8 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Hardcover)
Langue: anglais
Edité par ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, London, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Vendeur : Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 154,09
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Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Hardcover. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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EUR 151,79
Expédition à EUR 2,24
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 8 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 146,54
Expédition à EUR 7,51
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 164,54
Expédition à EUR 5,80
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 152,81
Expédition à EUR 17,32
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 8 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 155,06
Expédition à EUR 17,32
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 8 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Langue: anglais
Edité par ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 182,31
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Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardback. Etat : New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Vendeur : Ubiquity Trade, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 187,71
Expédition à EUR 2,55
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 173,87
Expédition à EUR 17,89
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Langue: anglais
Edité par ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 175,27
Expédition à EUR 19,55
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Langue: anglais
Edité par ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 183,03
Expédition à EUR 10,50
Expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Langue: anglais
Edité par John Wiley & Sons, Ltd., 2015
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
EUR 166,43
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Langue: anglais
Edité par Iste/Hermes Science Pub, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 215,67
Expédition à EUR 14,44
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Langue: anglais
Edité par ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 223,22
Expédition à EUR 8,91
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Langue: anglais
Edité par ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 171,59
Expédition à EUR 75,07
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Hardcover)
Langue: anglais
Edité par ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, London, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Vendeur : AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 265,76
Expédition à EUR 31,41
Expédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 231,75
Expédition à EUR 63,21
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Langue: anglais
Edité par Iste/Hermes Science Pub, 2016
ISBN 10 : 1848219369 ISBN 13 : 9781848219366
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 207,55
Expédition à EUR 14,44
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
