Advanced computing electron microscopy par kirkland (47 résultats)
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Etat : Like New. 2. Fine/As New; Hardcover; 2nd Edition; This book is brand new and still sealed in the publisher's original shrinkwrap; Perfect, new condition; This book will be shipped in a sturdy cardboard box with foam padding; Medium Format (8.5" - 9.75" tall); 1.8 lbs; Dark orange covers with title in white lettering; 2010…, Springer-Verlag Publishing; 289 pages; "Advanced Computing in Electron Microscopy," by Earl J. Kirkland.
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Taschenbuch. Etat : Neu. Advanced Computing in Electron Microscopy | Earl J. Kirkland | Taschenbuch | x | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489995094 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 62,29 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Preface to Second Edition Several new topics have been added, some small errors have been corrected and some new references have been added in this edition. New topics include aberration corrected instruments, scanning confocal mode of operations, Bloc…h wave eigenvalue methods and parallel computing techniques. The rst edition - cluded a CD with computer programs, which is not included in this edition. - stead the associated programs will be available on an associated web site (currently people.ccmr.cornell.edu/ kirkland,but may move as time goes on). I wish to thank Mick Thomas for preparing the specimen used to record the image in Fig.5.26 and to thank Stephen P. Meisburger for suggesting an interesting biological specimen to use in Fig.7.24. Again, I apologize in advance for leaving out some undoubtedlyoutstanding r- erences. I also apologize for the as yet undiscovered errors that remain in the text. Earl J. Kirkland, December 2009 Preface to First Edition Image simulation has become a common tool in HREM (High Resolution El- tron Microscopy) in recent years. However, the literature on the subject is scattered among many different journals and conference proceedings that have occurred in the last two or three decades. It is dif cult for beginners to get started in this eld.
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. This book features numerical computation of electron microscopy images as well as multislice methodsHigh resolution CTEM and STEM image interpretation are included in the textThis newly updated second edition will bring the reader up to dat.
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Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-UniRarewaves.com USA
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EUR 198,71
Frais de port gratuitsExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Hardback. Etat : New. Third Edition 2020. This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument and the specimen interaction… can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy.
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 198,99
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Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
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EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Advanced Computing in Electron Microscopy | Earl J. Kirkland | Taschenbuch | xii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030332624 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 243,73
EUR 3,51 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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EUR 62,79 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the ins…trument and the specimen interaction can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy.
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument… and the specimen interaction can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy.
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Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-UniRarewaves.com UK
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EUR 76,11 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Hardback. Etat : New. Third Edition 2020.
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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EUR 14,64 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Paperback. Etat : Brand New. 3rd edition. 368 pages. 9.25x6.10x0.79 inches. In Stock.
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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EUR 14,64 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Hardcover. Etat : Brand New. 3rd edition. 354 pages. 9.25x6.00x1.00 inches. In Stock.
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItalieBrook Bookstore On Demand
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Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-UnisBasi6 International
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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EUR 7,61 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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