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Proceedings of the Third Japan International SAMPE Symposium, Volume 1: "Advanced Materials", New Processes and Reliability
Langue: anglais
Edité par Society for the Advancement of Material and Process Engineering, Japan, 1993
ISBN 10 : 4990002830 ISBN 13 : 9784990002831
Vendeur : PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 26,88
Expédition à EUR 14,63
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Very Good. Etat de la jaquette : No Dust Jacket. First Edition. Small black mark at the bottom page corner. Used.
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Materials, Processes, Integration and Reliability in Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics: Volume 990: Symposium Held April 10-12, ... California, U.S.A. (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408717 ISBN 13 : 9781107408715
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 42,31
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Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics ? 2009: Volume 1156 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408318 ISBN 13 : 9781107408319
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
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Ion Beam Processes in Advanced Electronic Materials and Device Technology: Volume 45 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107405688 ISBN 13 : 9781107405684
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 42,31
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics ? 2009: Volume 1156 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408318 ISBN 13 : 9781107408319
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 37,28
Expédition à EUR 14,02
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Ion Beam Processes in Advanced Electronic Materials and Device Technology: Volume 45 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107405688 ISBN 13 : 9781107405684
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 37,28
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Materials, Processes, Integration and Reliability in Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics: Volume 990: Symposium Held April 10-12, ... California, U.S.A. (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408717 ISBN 13 : 9781107408715
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 37,28
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro and Nanoelectronics - 2009: Volume 1156 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press 2014-06-05, 2014
ISBN 10 : 1107408318 ISBN 13 : 9781107408319
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 34,86
Expédition à EUR 18,13
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
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Ion Beam Processes in Advanced Electronic Materials and Device Technology: Volume 45 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press 2014-06-05, 2014
ISBN 10 : 1107405688 ISBN 13 : 9781107405684
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 36,23
Expédition à EUR 18,13
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Materials, Processes, Integration and Reliability in Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics: Symposium Held April 10-12, 2007, San . U.S.A.: Volume 990 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press 2014-06-05, 2014
ISBN 10 : 1107408717 ISBN 13 : 9781107408715
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 36,23
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro and Nanoelectronics - 2009: Volume 1156 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408318 ISBN 13 : 9781107408319
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 43,47
Expédition à EUR 10,50
Expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro and Nanoelectronics - 2009: Volume 1156 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408318 ISBN 13 : 9781107408319
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 54,45
Expédition à EUR 9,18
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Advanced Materials and Processes (Volume 1)
Edité par Informationsgesellschaft, 1990
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 26,82
Expédition à EUR 15,92
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Ajouter au panierEtat : Fair. Volume 1. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1450grams, ISBN:3883551618.
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Advanced Materials and Processes (Volume 2)
Edité par Informationsgesellshaft, 1990
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 25,82
Expédition à EUR 18,45
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Ion Beam Processes in Advanced Electronic Materials and Device Technology: Volume 45 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107405688 ISBN 13 : 9781107405684
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 74,21
Expédition à EUR 9,18
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Ion Beam Processes in Advanced Electronic Materials and Device Technology: Volume 45 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107405688 ISBN 13 : 9781107405684
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 84,57
Expédition à EUR 10,50
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- And Nanoelectronics 2009 : Volume 1156
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408318 ISBN 13 : 9781107408319
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 55,44
Expédition à EUR 61,52
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Enabled by the development and introduction of new materials, the semiconductor industry continues to follow Moore's law into 32nm and 22nm technologies. Advanced interconnect structures require the use of porous dielectrics with further reduced k-values and even weaker mechanical properties, as well as much thinner metallization liners. In addition, the increasing resistivity of Cu at decreasing dimensions must be addressed in order to maintain the performance of continuously shrinking devices. To deal with these issues, and to maintain the reliability of the interconnects, innovations in materials, processes and architectures are needed. This book brings together researchers from around the world to exchange the latest advances in materials, processes, integration and reliability in advanced interconnects and packaging, and to discuss interconnects for emerging technologies. Papers from a joint session with Symposium F, Packaging, Chip-Package Interactions and Solder Materials Challenges, are also included and focus on 3D chip stacking and molecular electronics.
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Materials, Processes, Integration and Reliability in Advanced Interconnects for Micro- And Nanoelectronics : Volume 990: Symposium Held April 10 12, 20
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408717 ISBN 13 : 9781107408715
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 58,29
Expédition à EUR 62,60
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Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In 2004, the microelectronics industry quietly ushered in the Nanoelectronics Era with the mass production of sub-100nm node devices. The current leading-edge semiconductor chips in mass production - the so-called 90nm node devices - have a transistor gate length of less than 50nm. This rapid technological advancement in the semiconductor industry has been made possible by innovations in materials employed in both transistor fabrication (front-end-of-the-line, FEOL) and interconnect fabrication (back-end-of-the-line, BEOL). The 90nm node BEOL features copper (Cu) interconnects and dielectric materials with a low-dielectric constant (k) of about 3.0. However, for the next generations of 65nm node and beyond, evolutionary and revolutionary innovations in BEOL materials and processes are needed to fuel the continued, healthy growth of the semiconductor. This book provides a forum to exchange advances in materials, processes, integration, and reliability in advanced interconnects and packaging. The book also addresses interconnects for emerging technologies, including 3D chip stacking and optical interconnects, as well as interconnects for optoelectronics, plastic electronics and molecular electronics.
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Ion Beam Processes in Advanced Electronic Materials and Device Technology : Volume 45
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107405688 ISBN 13 : 9781107405684
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 58,66
Expédition à EUR 62,96
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics ? 2009: Volume 1156 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111295 ISBN 13 : 9781605111292
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 134,13
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics ? 2009: Volume 1156 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111295 ISBN 13 : 9781605111292
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 126,70
Expédition à EUR 14,02
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Materials, Processes, and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics - 2011: Volume 1335 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 2011
ISBN 10 : 1605113123 ISBN 13 : 9781605113128
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 114,55
Expédition à EUR 29,27
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Chemical Engineering Essentials, Volume 2: Advanced Processes, Materials, and Sustainability (eng)
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 132,44
Expédition à EUR 6,80
Expédition depuis Italie vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Chemical Engineering Essentials, Volume 2: Advanced Processes, Materials, and Sustainability (ISTE Invoiced)
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 156,64
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics ? 2009: Volume 1156: Symposium Held April 14-17, 2009, . California, U.s.a. (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111295 ISBN 13 : 9781605111292
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 140,88
Expédition à EUR 10,50
Expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Gall, Martin; Grill, Alfred; Lacopi, Francesca; Usui, Takamasa; Koike, Junichi. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 189 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 15. Weight in Grams: 400. . 2009. 1st Edition. hardcover. . . . .
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Chemical Engineering Essentials, Volume 2: Advanced Processes, Materials, and Sustainability (ISTE Invoiced)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 148,31
Expédition à EUR 14,02
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics - 2009: Volume 1156 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111295 ISBN 13 : 9781605111292
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 142,28
Expédition à EUR 29,27
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Chemical Engineering Essentials, Volume 2: Advanced Processes, Materials, and Sustainability (ISTE Invoiced)
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 177,31
Expédition à EUR 7,61
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics ? 2009: Volume 1156: Symposium Held April 14-17, 2009, . California, U.s.a. (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111295 ISBN 13 : 9781605111292
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 179,03
Expédition à EUR 9,18
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Gall, Martin; Grill, Alfred; Lacopi, Francesca; Usui, Takamasa; Koike, Junichi. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 189 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 15. Weight in Grams: 400. . 2009. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Chemical Engineering Essentials, Volume 2: Advanced Processes, Materials, and Sustainability (ISTE Invoiced)
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 196,12
Expédition à EUR 3,49
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
