Montant total (1 article articles) :
Destination de la commande :
atomic force microscopy principles (6 résultats)
Passer aux résultats principaux de la recherche
Filtres de recherche
Type d'article
- Tous les types de produits
- Livres (6)
- Magazines & Périodiques (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Bandes dessinées (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Partitions de musique (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Art, Affiches et Gravures (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Photographies (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Cartes (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Manuscrits & Papiers anciens (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Etat En savoir plus
- Neuf (5)
- Comme neuf, Très bon ou Bon (1)
- Assez bon ou satisfaisant (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Moyen ou mauvais (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Conformément à la description (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Reliure
- Toutes
- Couverture rigide (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Couverture souple (6)
Particularités
- Ed. originale (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Signé (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Jaquette (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Avec images (2)
- Sans impressions à la demande (3)
Langue (1)
Prix
- Tous les prix
- Moins de EUR 20 (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- EUR 20 à EUR 45
- Plus de EUR 45
Livraison gratuite
- Livraison gratuite à destination de Etats-Unis (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Pays
Evaluation du vendeur
-
AFM Handbook; Theoretical Principles and Experimental Parameters: An Introduction to Theoretical principles and Experimental Parameters of Atomic Force Microscopy (AFM)
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 72,39
Expédition à EUR 3,43
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New.
-
EUR 40,90
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. AFM Handbook; Theoretical Principles and Experimental Parameters | An Introduction to Theoretical principles and Experimental Parameters of Atomic Force Microscopy (AFM) | Akram Jassim Jawad | Taschenbuch | Englisch | 2020 | Scholars' Press | EAN 9786138940616 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
-
Atomic Force Microscopy: Principles, Developments and Applications
Langue: anglais
Edité par NOVA SCIENCE PUBLISHERS INC (4/2018), 2018
ISBN 10 : 1536134953 ISBN 13 : 9781536134957
EUR 268,73
Expédition à EUR 53,50
Expédition depuis Suisse vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Used: Like New. LIVRE A L?ETAT DE NEUF. EXPEDIE SOUS 3 JOURS OUVRES. NUMERO DE SUIVI COMMUNIQUE AVANT ENVOI, EMBALLAGE RENFORCE. EAN:9781536134957.
-
AFM Handbook; Theoretical Principles and Experimental Parameters: An Introduction to Theoretical principles and Experimental Parameters of Atomic Force Microscopy (AFM)
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 71,48
Expédition à EUR 7,51
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand.
-
AFM Handbook; Theoretical Principles and Experimental Parameters: An Introduction to Theoretical principles and Experimental Parameters of Atomic Force Microscopy (AFM)
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 73,08
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND.
-
AFM Handbook; Theoretical Principles and Experimental Parameters : An Introduction to Theoretical principles and Experimental Parameters of Atomic Force Microscopy (AFM)
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 46,45
Expédition à EUR 60,66
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - In this book, AFM Handbook; Theoretical Principles and Experimental Parameters; An Introduction to Theoretical principles and Experimental Parameters of Atomic Force Microscopy (AFM), both theoretical principles and experimental parameters have summered and presented in a simple way which can be quiet useful for any person who works in AFM fields. This book can be meaningful for theoretical lessons for undergraduates and postgraduate students as well as for the researchers. It has two chapters, the first one covers the main and art principles of AFM, with historical background, applications, types, and the main components in detail. The second chapter contains all output parameters in a comprehensive explanation with schematic figures.
