Colloque madrid lanalyse spectrographie diffraction (1 résultats)

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Colloque de Madrid. L'analyse par spectrographie et diffraction des rayons x. 2 au 5 octobre 1962.
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Eindhoven, Philips, 1962, due volumi in-4to (cm. 29,5 x 20) legatura a spirale, pp. 257 con numerose illustrazioni nel testo. Contributi di L. Caeymaex, J.L. de Vries, J. Hancart et al.