Computational forensics (120 résultats)
Computational Forensics : Third International Workshop, IWCF 2009, The Hague, The Netherlands, August 13-14, 2009, Proceedings
Geradts, Zeno J. M. H. (EDT); Franke, Katrin Y. (EDT); Veenman, Cor J. (EDT)
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Computational Forensics : 4th International Workshop, Iwcf 2010 Tokyo, Japan, November 11-12, 2010, Revised Selected Papers
Sako, Hiroshi (EDT); Franke, Katrin (EDT); Saitoh, Shuji (EDT)
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Paperback or Softback. Etat : New. Computational Forensics: 4th International Workshop, Iwcf 2010 Tokyo, Japan, November 11-12, 2010, Revised Selected Papers. Book.
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Paperback or Softback. Etat : New. Computational Forensics: Third International Workshop, Iwcf 2009, the Hague, the Netherlands, August 13-14, 2009, Proceedings. Book.
Computational Forensics : 4th International Workshop, Iwcf 2010 Tokyo, Japan, November 11-12, 2010, Revised Selected Papers
Sako, Hiroshi (EDT); Franke, Katrin (EDT); Saitoh, Shuji (EDT)
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Langue : anglais
Edité par Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG, DE, 2011
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Paperback. Etat : New. 2011 ed. This book constitutes the thoroughly refereed post-proceedings of the 4th International Workshop on Computational Forensics, IWCF 2010, held in Tokyo, Japan in November 2010. The 16 revised full papers presented together with two invited keynote papers were carefully selected during two rounds of reviewing and revision. The papers cover a wide range of current topics in computational forensics including authentication, biometrics, document analysis, multimedia, forensic tool evaluation, character recognition, and forensic verification.…
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hardcover. Etat : Sehr gut. 467 Seiten; 9783319058849.2 Gewicht in Gramm: 1.
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Computational Forensics : 4th International Workshop, Iwcf 2010 Tokyo, Japan, November 11-12, 2010, Revised Selected Papers
Sako, Hiroshi (EDT); Franke, Katrin (EDT); Saitoh, Shuji (EDT)
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Computational Forensics : Third International Workshop, IWCF 2009, The Hague, The Netherlands, August 13-14, 2009, Proceedings
Geradts, Zeno J. M. H. (EDT); Franke, Katrin Y. (EDT); Veenman, Cor J. (EDT)
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Computational Intelligence in Digital Forensics
Muda, Azah Kamilah; Choo, Yun-Huoy; Abraham, Ajith; N. Srihari, Sargur
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Computational Forensics : 4th International Workshop, Iwcf 2010 Tokyo, Japan, November 11-12, 2010, Revised Selected Papers
Sako, Hiroshi (EDT); Franke, Katrin (EDT); Saitoh, Shuji (EDT)
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Computational Forensics : Third International Workshop, IWCF 2009, The Hague, The Netherlands, August 13-14, 2009, Proceedings
Geradts, Zeno J. M. H. (EDT); Franke, Katrin Y. (EDT); Veenman, Cor J. (EDT)
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Etat : New. pp. 192.
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Paperback. Etat : Brand New. revised edition. 224 pages. 9.25x6.10x0.51 inches. In Stock.
Computational Forensics: 4th International Workshop, Iwcf 2010 Tokyo, Japan, November 11-12, 2010, Revised Selected Papers
Sako, Hiroshi (Editor)/ Franke, Katrin (Editor)/ Saitoh, Shuji (Editor)
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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Paperback. Etat : Brand New. 223 pages. 9.25x6.06x0.55 inches. In Stock.
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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EUR 11,95 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponibles
Paperback. Etat : Brand New. 1st edition. 229 pages. 9.61x6.14x0.91 inches. In Stock.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 11,19 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 66,40
EUR 35,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed post-conference proceedings of the 5th and 6th International Workshops on Computational Forensics, IWCF 2012 and IWCF 2014, held in Tsukuba, Japan, in November 2010 and August 2014. The 16 revised full papers and 1 short paper were carefully selected from 34 submissions during a thorough review process. The papers are divided into three broad areas namely biometrics; document image inspection; and applications.…
