Computer processing electron microscope (17 résultats)
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gebundene Ausgabe. Etat : Gut. 296 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut…. Text in ENGLISCHER Sprache! Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 700.
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Etat : Very Good. 296 pp., hardcover, minor internal library markings else text clean & binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's coun…try.
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Leinen. 296 S. With illustrations and photos in B/W. Ex.-Library. Good condition. Cover slightly faded and worn. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 700.
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Etat : Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,750grams, ISBN:0387096221.
Computer Processing of Electron Microscope Images
Hawkes, P. W. (EDT); Frank, J. (CON); Hawkes, P.w. (CON); Hegerl, R. (CON); Hoppe, W. (CON)
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Computer Processing of Electron Microscope Images
Hawkes, P. W. (EDT); Frank, J. (CON); Hawkes, P.w. (CON); Hegerl, R. (CON); Hoppe, W. (CON)
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PF. Etat : New.
Computer Processing of Electron Microscope Images
Hawkes, P. W. (EDT); Frank, J. (CON); Hawkes, P.w. (CON); Hegerl, R. (CON); Hoppe, W. (CON)
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Edité par Springer-Verlag, 1980., 1980
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Hardcover. Ex-library, several marks to covers, otherwise good (no markings to text). No dust jacket. Part of the Topics in Current Physics series, volume 13. 296pp. ISBN 3540096221 or US ISBN 0387096221.
Computer Processing of Electron Microscope Images
Hawkes, P. W. (EDT); Frank, J. (CON); Hawkes, P.w. (CON); Hegerl, R. (CON); Hoppe, W. (CON)
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Paperback. Etat : Brand New. reprint edition. 310 pages. 9.60x6.70x0.80 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Towards the end of the 1960s, a number of quite different circumstances combined to launch a period of intense activity in the digital processing of electron micro graphs. First, many years of work on correcting the resolution-limiting aberrations of e…lectron microscope objectives had shown that these optical impediments to very high resolution could indeed be overcome, but only at the cost of immense exper imental difficulty; thanks largely to the theoretical work of K. -J. Hanszen and his colleagues and to the experimental work of F. Thon, the notions of transfer func tions were beginning to supplant or complement the concepts of geometrical optics in electron optical thinking; and finally, large fast computers, capable of manipu lating big image matrices in a reasonable time, were widely accessible. Thus the idea that recorded electron microscope images could be improved in some way or rendered more informative by subsequent computer processing gradually gained ground. At first, most effort was concentrated on three-dimensional reconstruction, particu larly of specimens with natural symmetry that could be exploited, and on linear operations on weakly scattering specimens (Chap. l). In 1973, however, R. W. Gerchberg and W. O. Saxton described an iterative algorithm that in principle yielded the phase and amplitude of the electron wave emerging from a strongly scattering speci men.
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Towards the end of the 1960s, a number of quite different circumstances combined to launch a period of intense activity in the digital processing of electron micro graphs. First, many years of work on correcting the resolution-limiting aber…rations of electron microscope objectives had shown that these optical impediments to very high resolution could indeed be overcome, but only at the cost of immense exper imental difficulty; thanks largely to the theoretical work of K. -J. Hanszen and his colleagues and to the experimental work of F. Thon, the notions of transfer func tions were beginning to supplant or complement the concepts of geometrical optics in electron optical thinking; and finally, large fast computers, capable of manipu lating big image matrices in a reasonable time, were widely accessible. Thus the idea that recorded electron microscope images could be improved in some way or rendered more informative by subsequent computer processing gradually gained ground. At first, most effort was concentrated on three-dimensional reconstruction, particu larly of specimens with natural symmetry that could be exploited, and on linear operations on weakly scattering specimens (Chap. l). In 1973, however, R. W. Gerchberg and W. O. Saxton described an iterative algorithm that in principle yielded the phase and amplitude of the electron wave emerging from a strongly scattering speci men.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 316 pp. Englisch.
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EUR 106,99
EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Towards the end of the 1960s, a number of quite different circumstances combined to launch a period of intense activity in the digital processing of electron micro graphs. First, many years of work on correcting the resolution-limiting…aberrations of electron microscope objectives had shown that these optical impediments to very high resolution could indeed be overcome, but only at the cost of immense exper imental difficulty; thanks largely to the theoretical work of K. -J. Hanszen and his colleagues and to the experimental work of F. Thon, the notions of transfer func tions were beginning to supplant or complement the concepts of geometrical optics in electron optical thinking; and finally, large fast computers, capable of manipu lating big image matrices in a reasonable time, were widely accessible. Thus the idea that recorded electron microscope images could be improved in some way or rendered more informative by subsequent computer processing gradually gained ground. At first, most effort was concentrated on three-dimensional reconstruction, particu larly of specimens with natural symmetry that could be exploited, and on linear operations on weakly scattering specimens (Chap. l). In 1973, however, R. W. Gerchberg and W. O. Saxton described an iterative algorithm that in principle yielded the phase and amplitude of the electron wave emerging from a strongly scattering speci men. 316 pp. Englisch.
