Defect analysis electron microscopy (2 résultats)

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  • Langue : anglais

    Edité par Wiley : distributed by Halstead Press, 1975

    0412137704 / 9780412137709

    • Couverture souple

    Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-UnisThriftBooks-Dallas

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    Paperback. Etat : Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.

  • Langue : anglais

    Edité par Chapman and Hall, 1975

    047054760X / 9780470547601

    • Couverture rigide

    Vendeur : Solr Books, Lincolnwood, IL, Etats-UnisSolr Books

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    Etat: Occasion - Moyen

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    Expédition nationale : Etats-Unis

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