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Defect analysis in electron microscopy
Langue: anglais
Edité par Wiley : distributed by Halstead Press, 1975
ISBN 10 : 0412137704 ISBN 13 : 9780412137709
Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
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Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect analysis in electron microscopy
Vendeur : Solr Books, Lincolnwood, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 901,70
Expédition à EUR 6,99
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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