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DESIGN AND TEST TECHNOLOGY FOR DEPENDABLE SYSTEMS ON CHIP
Langue: anglais
Edité par Information Science Reference, 2011
ISBN 10 : 1609602129 ISBN 13 : 9781609602123
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Information Science Reference, 2011
ISBN 10 : 1609602129 ISBN 13 : 9781609602123
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Information Science Reference, 2011
ISBN 10 : 1609602129 ISBN 13 : 9781609602123
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 179,41
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Information Science Reference, 2011
ISBN 10 : 1609602129 ISBN 13 : 9781609602123
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Information Science Reference, 2011
ISBN 10 : 1609602129 ISBN 13 : 9781609602123
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Premier Reference Source)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Information Science Reference, 2011
ISBN 10 : 1609602129 ISBN 13 : 9781609602123
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 213,06
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Edition internationaleDESIGN & TEST TECHNOLOGY FOR DEPENDABLE SYSTEMS ON CHIP
Vendeur : UK BOOKS STORE, London, LONDO, Royaume-Uni
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-Unis
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
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Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip
Langue: anglais
Edité par Information Science Reference, 2011
ISBN 10 : 1609602129 ISBN 13 : 9781609602123
EUR 189,24
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Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Covers aspects of system design and efficient modelling, and also introduces various fault models and fault mechanisms associated with digital circuits integrated into System on Chip (SoC), Multi-Processor System-on Chip (MPSoC) or Network on Chip (NoC). Th.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Information Science Reference, 2011
ISBN 10 : 1609602129 ISBN 13 : 9781609602123
EUR 196,15
Expédition à EUR 70
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Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip | Raimund Ubar (u. a.) | Buch | Gebunden | Englisch | 2011 | Information Science Reference | EAN 9781609602123 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
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Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
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Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
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EUR 293,41
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Information Science Reference, 2011
ISBN 10 : 1609602129 ISBN 13 : 9781609602123
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 236,38
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Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Designing reliable and dependable embedded systems has become increasingly important as the failure of these systems in an automotive, aerospace or nuclear application can have serious consequences. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip covers aspects of system design and efficient modelling, and also introduces various fault models and fault mechanisms associated with digital circuits integrated into System on Chip (SoC), Multi-Processor System-on Chip (MPSoC) or Network on Chip (NoC). This book provides insight into refined 'classical' design and test topics and solutions for IC test technology and fault-tolerant systems.
