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digital circuit testing testability de lala parag (5 résultats)
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Auteur :
lala parag
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Evaluation du vendeur
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Digital Circuit Testing and Testability
Edité par Elsevier Science & Technology, 1997
ISBN 10 : 0124343309 ISBN 13 : 9780124343306
Langue: anglais
Vendeur : Better World Books, Mishawaka, IN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 30,36
Autre deviseEUR 9,52 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Very Good. 1st Edition. Former library book; may include library markings. Used book that is in excellent condition. May show signs of wear or have minor defects.
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Digital Circuit Testing and Testability
Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 43,40
Autre deviseEUR 7,65 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 1.2.
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Digital Circuit Testing and Testability
Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 43,40
Autre deviseEUR 7,65 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fair. No Jacket. Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 1.2.
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EUR 44,80
Autre deviseEUR 9,90 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Digital Circuit Testing and Testability (The Morgan Kaufmann Series in Computer Architecture and Design)
Vendeur : The Book Spot, Sioux Falls, MN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 262,46
Autre deviseEUR 38,22 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : New.
