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digital system test testable (27 résultats)
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Digital System Test and Testable Design: Using HDL Models and Architectures
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 89,55
Expédition à EUR 13,74
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Digital System Test and Testable Design : Using HDL Models and Architectures
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 87,63
Expédition à EUR 17,76
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
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Digital System Test and Testable Design : Using HDL Models and Architectures
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 108,98
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Digital System Test and Testable Design: Using HDL Models and Architectures
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 114,56
Expédition à EUR 3,43
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 452 Softcover reprint of the original 1st ed. 2011 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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EUR 29,90
Expédition à EUR 105
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Ajouter au panierEtat : Gut. Zustand: Gut | Seiten: 460 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book is about digital system testing and testable design. The concepts of testing and testability are treated together with digital design practices and methodologies. The book uses Verilog models and testbenches for implementing and explaining fault simulation and test generation algorithms. Extensive use of Verilog and Verilog PLI for test applications is what distinguishes this book from other test and testability books. Verilog eliminates ambiguities in test algorithms and BIST and DFT hardware architectures, and it clearly describes the architecture of the testability hardware and its test sessions. Describing many of the on-chip decompression algorithms in Verilog helps to evaluate these algorithms in terms of hardware overhead and timing, and thus feasibility of using them for System-on-Chip designs. Extensive use of testbenches and testbench development techniques is another unique feature of this book. Using PLI in developing testbenches and virtual testers provides a powerful programming tool, interfaced with hardware described in Verilog. This mixed hardware/software environment facilitates description of complex test programs and test strategies.
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EUR 29,90
Expédition à EUR 105
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Ajouter au panierEtat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 435 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Digital System Test and Testable Design: Using HDL Models and Architectures
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 125,56
Expédition à EUR 13,74
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Digital System Test and Testable Design: Using HDL Models and Architectures
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 128,19
Expédition à EUR 14,33
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. reprint edition. 435 pages. 10.00x7.01x1.04 inches. In Stock.
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Digital System Test and Testable Design : Using HDL Models and Architectures
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 125,55
Expédition à EUR 17,20
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EUR 77,25
Expédition à EUR 70
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Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Digital System Test and Testable Design | Using HDL Models and Architectures | Zainalabedin Navabi | Taschenbuch | xvii | Englisch | 2016 | Humana | EAN 9781489979278 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Digital System Test and Testable Design
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 152,07
Expédition à EUR 3,43
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 460.
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Digital System Test and Testable Design : Using HDL Models and Architectures
Langue: anglais
Edité par Springer US, Springer US, 2016
ISBN 10 : 1489979271 ISBN 13 : 9781489979278
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 90,34
Expédition à EUR 64,29
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is about digital system testing and testable design. The concepts of testing and testability are treated together with digital design practices and methodologies. The book uses Verilog models and testbenches for implementing and explaining fault simulation and test generation algorithms.Extensive use of Verilog and Verilog PLI for test applications is what distinguishes this book from other test and testability books. Verilog eliminates ambiguities in test algorithms and BIST and DFT hardware architectures, and it clearly describes the architecture of the testability hardware and its test sessions. Describing many of the on-chip decompression algorithms in Verilog helps to evaluate these algorithms in terms of hardware overhead and timing, and thus feasibility of using them for System-on-Chip designs. Extensive use of testbenches and testbench development techniques is another unique feature of this book. Using PLI in developing testbenches and virtual testers provides a powerful programming tool, interfaced with hardware described in Verilog. This mixed hardware/software environment facilitates description of complex test programs and test strategies.
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Digital System Test and Testable Design : Using Hdl Models and Architectures
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 127,15
Expédition à EUR 65,09
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is about digital system testing and testable design. The concepts of testing and testability are treated together with digital design practices and methodologies. The book uses Verilog models and testbenches for implementing and explaining fault simulation and test generation algorithms.Extensive use of Verilog and Verilog PLI for test applications is what distinguishes this book from other test and testability books. Verilog eliminates ambiguities in test algorithms and BIST and DFT hardware architectures, and it clearly describes the architecture of the testability hardware and its test sessions. Describing many of the on-chip decompression algorithms in Verilog helps to evaluate these algorithms in terms of hardware overhead and timing, and thus feasibility of using them for System-on-Chip designs. Extensive use of testbenches and testbench development techniques is another unique feature of this book. Using PLI in developing testbenches and virtual testers provides a powerful programming tool, interfaced with hardware described in Verilog. This mixed hardware/software environment facilitates description of complex test programs and test strategies.
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Digital System Test and Testable Design : Using HDL Models and Architectures
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 184,23
Expédition à EUR 17,20
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Digital System Test and Testable Design: Using HDL Models and Architectures
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 174,79
Expédition à EUR 28,67
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Digital System Test and Testable Design : Using HDL Models and Architectures
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 207,17
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Digital System Test and Testable Design: Using HDL Models and Architectures (eng)
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 94,25
Expédition à EUR 11
Expédition depuis Italie vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Digital System Test and Testable Design
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 85,59
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book is about digital system testing and testable design. The concepts of testing and testability are treated together with digital design practices and methodologies. The book uses Verilog models and testbenches for implementing and explaining fault simulation and test generation algorithms.Extensive use of Verilog and Verilog PLI for test applications is what distinguishes this book from other test and testability books. Verilog eliminates ambiguities in test algorithms and BIST and DFT hardware architectures, and it clearly describes the architecture of the testability hardware and its test sessions. Describing many of the on-chip decompression algorithms in Verilog helps to evaluate these algorithms in terms of hardware overhead and timing, and thus feasibility of using them for System-on-Chip designs. Extensive use of testbenches and testbench development techniques is another unique feature of this book. Using PLI in developing testbenches and virtual testers provides a powerful programming tool, interfaced with hardware described in Verilog. This mixed hardware/software environment facilitates description of complex test programs and test strategies. 460 pp. Englisch.
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EUR 72,89
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. About the AuthorDr. Zainalabedin Navabi is a professor of electrical and computer engineering at Worcester Polytechnic Institute. Dr. Navabi is the author of several textbooks and computer based trainings on VHDL, Verilog and related tools and environments.
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Digital System Test and Testable Design: Using HDL Models and Architectures
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 114,20
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 452.
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Digital System Test and Testable Design: Using HDL Models and Architectures
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 123,01
Expédition à EUR 7,45
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Digital System Test and Testable Design: Using HDL Models and Architectures
Langue: anglais
Edité par Springer-Verlag New York Inc., 2016
ISBN 10 : 1489979271 ISBN 13 : 9781489979278
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 105,96
Expédition à EUR 23,10
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierPaperback / softback. Etat : New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Digital System Test and Testable Design: Using Hdl Models and Architectures
Langue: anglais
Edité par SPRINGER NATURE Dez 2010, 2010
ISBN 10 : 1441975470 ISBN 13 : 9781441975478
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 117,69
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Digital System Test and Testable Design
Langue: anglais
Edité par Springer, Humana Aug 2016, 2016
ISBN 10 : 1489979271 ISBN 13 : 9781489979278
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 85,59
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Describes test methods in Verilog and PLI, which makes the methods more understandable and the gates possible to simulateSimulation of gate models allows fault simulation and test generation, while Verilog testbenches inject faults, evaluate fault coverage and apply new test patternsDescribes DFT, compression, decompression, and BIST techniques in Verilog, which makes the hardware of the architectures easier to understand and allows simulation and evaluation of the testability methodsSpringer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 460 pp. Englisch.
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EUR 101,85
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Digital System Test and Testable Design
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 165,64
Expédition à EUR 7,45
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Digital System Test and Testable Design
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 169,89
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 460.
