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Electrically Based Microstructural Characterization: Symposium Held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, Warrendale, Pennsylvania, U.S.A., 1996
ISBN 10 : 1558993142 ISBN 13 : 9781558993143
Vendeur : David's Books, Ypsilanti, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 3 sur 5 étoiles
EUR 13,29
Expédition à EUR 4,47
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHard Cover. Etat : Very Good. Printer's stamp inside, else fine.
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Electrically Based Microstructural Characterization: Symposium Held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A
Edité par Materials Research Society, Warrendale, Pennsylvania, U.S.A., 1996
Vendeur : Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 17,73
Expédition à EUR 4,73
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : As New. No Jacket. First Edition. This is a fine, as new, hardcover first edition copy in blue faux leather binding with white lettering on cover and spine, no DJ. Volume 411 in the MRS symposium proceedings.
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Electrically Based Microstructural Characterization II : Symposium Held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 43,74
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Electrically Based Microstructural Characterization II: Volume 500 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 46,09
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Electrically Based Microstructural Characterization II: Volume 500 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 44,72
Expédition à EUR 13,87
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Electrically Based Microstructural Characterization II : Symposium Held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 44,70
Expédition à EUR 17,36
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Electrically Based Microstructural Characterization II: Volume 500: Symposium Held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 52,90
Expédition à EUR 10,50
Expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Gerhardt, Rosario A.; Alim, M. A.; Taylor, S. Ray. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 367 pages. BIC Classification: TBN; TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 23. Weight in Grams: 682. . 1998. 1st Edition. hardcover. . . . .
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Electrically Based Microstructural Characterization II
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 70,84
Expédition à EUR 3,43
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 367.
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Electrically Based Microstructural Characterization II: Volume 500: Symposium Held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 65,91
Expédition à EUR 9,03
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Gerhardt, Rosario A.; Alim, M. A.; Taylor, S. Ray. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 367 pages. BIC Classification: TBN; TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 23. Weight in Grams: 682. . 1998. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Electrically Based Microstructural Characterization II: Symposium Held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 63,60
Expédition à EUR 14,47
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 367 pages. 8.90x6.20x0.90 inches. In Stock.
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Electrically Based Microstructural Characterization II : Symposium Held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 95,38
Expédition à EUR 17,36
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Electrically Based Microstructural Characterization II: Volume 500 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 85,85
Expédition à EUR 28,94
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Like New. Like New. book.
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Electrically Based Microstructural Characterization II : Symposium Held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 115,87
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Electrically Based Microstructural Characterization II
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 61,03
Expédition à EUR 63,53
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a forum for researchers who have been using a variety of electrical measurements as a means to obtain microstructural information about their materials. Microstructure in this context includes features at all length scales - atomic to macroscopic. Even though numerous examples of microstructure/electrical property correlations exist, this book focuses on the myriad of applications that have already been successful. In addition, advances in techniques for the interpretation of data and modelling of materials-related phenomena are emphasized. The effects of percolation and connectivity of electrical paths are of particular interest as they determine the resultant electrical response. These in turn are intimately linked to how a material is processed, what phases it contains, and how the phases are distributed in real space. All classes of materials are covered including semiconductors, electroceramics, biological materials, polymers, metals, geomaterials and a variety of composites. Topics include: advances in localized electrical testing; semiconductor and microelectronic applications; magnetic and polymeric materials; dielectrics and ferroelectrics; varistors; ionic and mixed conductors and composites and percolation systems.
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Electrically Based Microstructural Characterization II: Symposium Held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 44,83
Expédition à EUR 14,47
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 367 pages. 8.90x6.20x0.90 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Electrically Based Microstructural Characterization II: Volume 500
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 48,70
Expédition à EUR 20,66
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierHardback. Etat : New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Electrically Based Microstructural Characterization II
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 68,58
Expédition à EUR 7,52
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand pp. 367.
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Electrically Based Microstructural Characterization II
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 68,28
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Electrically Based Microstructural Characterization II
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 155899405X ISBN 13 : 9781558994058
EUR 49,23
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.InhaltsverzeichnisPart I. Advances in Localized Electrical Testing Part II. Semiconductor and Microelectronic .
