Vendeur : BOOKWEST, Phoenix, AZ, Etats-Unis
EUR 77,81
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
EUR 103,81
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
EUR 105,34
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New.
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
EUR 104,14
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
EUR 106,49
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
EUR 110,27
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
EUR 124,53
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
EUR 114,37
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
EUR 140,59
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 176.
EUR 140,95
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 176.
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
EUR 126,29
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
EUR 115,37
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
EUR 160,50
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
Vendeur : Celler Versandantiquariat, Eicklingen, Allemagne
Membre d'association : GIAQ
EUR 16
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierKluwer, Boston, 1990. X, 159 pages with some graphics, hard cover----former library book in good condition- 460 Gramm.
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
EUR 92,27
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
EUR 150,66
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand pp. 176 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
EUR 150,78
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand pp. 176 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
EUR 150,51
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 176.
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
EUR 150,67
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 176.