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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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EUR 55,41
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
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Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 102,70
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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EUR 92,66
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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EUR 107,59
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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EUR 92,65
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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EUR 103,98
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Springer International Publishing Mär 2024, 2024
ISBN 10 : 3031196414 ISBN 13 : 9783031196416
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
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Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.
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EUR 59,40
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Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip | Patrick Girard (u. a.) | Taschenbuch | xi | Englisch | 2024 | Springer | EAN 9783031196416 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Machine Learning Support For Fault Diagn
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 119,84
Expédition à EUR 10,50
Expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2023
ISBN 10 : 3031196384 ISBN 13 : 9783031196386
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 90,94
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Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
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EUR 143,48
Expédition à EUR 14,72
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Machine Learning Support For Fault Diagn
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
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EUR 151,26
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EUR 67,15
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Ajouter au panierEtat : Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 328 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-Unis
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EUR 58,47
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip (eng)
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
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EUR 54,23
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of Sy
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of Sy
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
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EUR 78,76
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip (eng)
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
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EUR 74,24
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2024
ISBN 10 : 3031196414 ISBN 13 : 9783031196416
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 64,19
Expédition à EUR 23
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
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EUR 95,88
Expédition à EUR 7,65
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2024
ISBN 10 : 3031196414 ISBN 13 : 9783031196416
EUR 55,78
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
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EUR 96,17
Expédition à EUR 9,95
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Springer International Publishing, Springer International Publishing Mär 2023, 2023
ISBN 10 : 3031196384 ISBN 13 : 9783031196386
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 90,94
Expédition à EUR 23
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Springer, Springer Mär 2024, 2024
ISBN 10 : 3031196414 ISBN 13 : 9783031196416
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 64,19
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2023
ISBN 10 : 3031196384 ISBN 13 : 9783031196386
EUR 79,72
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 128,69
Expédition à EUR 7,65
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 129,32
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Langue: anglais
Edité par Springer, Springer Mär 2023, 2023
ISBN 10 : 3031196384 ISBN 13 : 9783031196386
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 90,94
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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