Machine learning support fault (31 résultats)
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Etat : New. 2023rd edition NO-PA16APR2015-KAP.
Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Girard, Patrick (EDT); Blanton, Shawn (EDT); Wang, Li-c. (EDT)
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Girard, Patrick (EDT); Blanton, Shawn (EDT); Wang, Li-c. (EDT)
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Etat : New.
Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Girard, Patrick (EDT); Blanton, Shawn (EDT); Wang, Li-c. (EDT)
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Girard, Patrick (EDT); Blanton, Shawn (EDT); Wang, Li-c. (EDT)
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Langue : anglais
Edité par Springer International Publishing Mär 2024, 2024
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after… manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.
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EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip | Patrick Girard (u. a.) | Taschenbuch | xi | Englisch | 2024 | Springer | EAN 9783031196416 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter:…preigu.
Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Girard, Patrick (Editor)/ Blanton, Shawn (Editor)/ Wang, Li-c. (Editor)
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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Hardcover. Etat : Brand New. 327 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
Langue : anglais
Edité par Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2023
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufa…cturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.
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Vendeur : Buchpark, Trebbin, AllemagneBuchpark
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Etat : Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 328 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for…volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.
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Vendeur : BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AllemagneBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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Hardcover. Etat : gut. 2023. Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip In deutscher Sprache. pages.
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PAP. Etat : New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Langue : anglais
Edité par Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2024
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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Etat : New. Print on Demand.
Langue : anglais
Edité par Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2024
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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Langue : anglais
Edité par Springer International Publishing, Springer International Publishing Mär 2023, 2023
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagno…sis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques. 328 pp. Englisch.
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Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume dia…gnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 328 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2023
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EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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