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Microstructural Characterization of Materials
Vendeur : BooksRun, Philadelphia, PA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 6,74
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Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. 1. It's a well-cared-for item that has seen limited use. The item may show minor signs of wear. All the text is legible, with all pages included. It may have slight markings and/or highlighting.
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Microstructural Characterization of Materials
Vendeur : ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 8,72
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. No Jacket. Missing dust jacket; Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Microstructural Characterization of Materials
Langue: anglais
Edité par John Wiley & Son Ltd (edition 1), 1999
ISBN 10 : 0471985023 ISBN 13 : 9780471985020
Vendeur : BooksRun, Philadelphia, PA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 12,98
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Fair. 1. The item might be beaten up but readable. May contain markings or highlighting, as well as stains, bent corners, or any other major defect, but the text is not obscured in any way.
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Characterization of Catalyst Materials for Production of Aerospace Fuels
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 11,38
Expédition à EUR 2,30
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Recent Advances in Materials Characterization and Modeling of Pavement Systems (Geotechnical Special Publication)
Langue: anglais
Edité par Amer Society of Civil Engineers, 2003
ISBN 10 : 0784407096 ISBN 13 : 9780784407097
Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 14,45
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Very Good. No Jacket. Former library book; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
Langue: anglais
Edité par KIT Scientific Publishing, 2015
ISBN 10 : 3731503182 ISBN 13 : 9783731503187
EUR 4,14
Expédition à EUR 10
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : very good. Gut/Very good: Buch bzw. Schutzumschlag mit wenigen Gebrauchsspuren an Einband, Schutzumschlag oder Seiten. / Describes a book or dust jacket that does show some signs of wear on either the binding, dust jacket or pages.
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Thermal Characterization of Polymeric Materials
Vendeur : Midtown Scholar Bookstore, Harrisburg, PA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 9,20
Expédition à EUR 5,23
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Acceptable. Ex-library with usual stamps and markings This is a damaged book. May be ex-library, water-damaged, or spine creased/broken. Acceptable, Reading copy only, with writing/markings and heavy wear. Standard-sized.
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Characterization of Materials
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 6,87
Expédition à EUR 7,49
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. xi + 148 Illus.
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Characterization of Materials
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 12,32
Expédition à EUR 3,48
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2000
ISBN 10 : 052155490X ISBN 13 : 9780521554909
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 12,63
Expédition à EUR 3,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Surface Plasmon Resonance Sensors: A Materials Guide to Design, Characterization, Optimization, and Usage: 70 (Springer Series in Surface Sciences, 70)
Livre 29 sur 30 : Springer Series in Surface SciencesVendeur : BoundlessBookstore, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 7,84
Expédition à EUR 8,04
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. Good condition book without dust jacket. Boards are clean with light wear. Book has clean and bright contents.
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Characterization of Optical Materials (Materials Characterization)
Vendeur : Swan Trading Company, GEORGETOWN, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16,52
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Very Good. Nice copy of this hardcover. Binding is tight. Covers clean and crisp. Previous owner name stamped on inside fly page. Pages appear unmarked. Ships FAST! Bringing good books to happy readers since 2002.
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A Guide to Materials Characterization and Chemical Analysis
Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16,97
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Applied Materials Characterization Materials Research Society Symposia Proceedings Volume 48, April 15-18, 1985, San Francisco, CA
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, Pittsburgh, PA, 1985
ISBN 10 : 0931837138 ISBN 13 : 9780931837135
Vendeur : Crossroad Books, Eau Claire, WI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 12,14
Expédition à EUR 4,80
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : with no dust jacket. Etat de la jaquette : No Dust Jacket. Ex-Corporate Library copy; with typical markings. Library label on front board and on spine tail. Spine twist. Pages clean, but for library markings. ; TEH22A; 483 pages; Ex-Library.
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Applications of Analytical Techniques to the Characterization of Materials.; Proceedings of an American Chemical Society Division of Industrial and Engineering Chemistry symposium, 1990, Washington, DC
Vendeur : J. HOOD, BOOKSELLERS, ABAA/ILAB, Baldwin City, KS, Etats-Unis
Membre d'association : ABAA ILAB
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 13,48
Expédition à EUR 4,36
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. 192pp. Near new condition, covers bright, text clean and binding tight.
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Metals Handbook: Materials Characterization (ASM HANDBOOK)
Vendeur : Bay State Book Company, North Smithfield, RI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 19,19
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : good. The book is in good condition with all pages and cover intact, including the dust jacket if originally issued. The spine may show light wear. Pages may contain some notes or highlighting, and there might be a "From the library of" label. Boxed set packaging, shrink wrap, or included media like CDs may be missing.
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Applications of Analytical Techniques to the Characterization of Materials
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16,14
Expédition à EUR 3,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Nondestructive Characterization of Materials II
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16,22
Expédition à EUR 3,93
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Very Good. 804 pp., Hardcover, handstamp to front pastedown and endpaper, else very good. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2000
ISBN 10 : 052155490X ISBN 13 : 9780521554909
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 4,14
Expédition à EUR 15,67
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1200grams, ISBN:9780521554909.
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Thermal Characterization of Polymeric Materials
Vendeur : GuthrieBooks, Spring Branch, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 14,26
Expédition à EUR 6,10
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. Ex-Library hardcover in good condition with the usual markings, attachments and library wear. Except for library markings, interior clean and unmarked. Tight binding.
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Temperature-Programmed Reduction for Solid Materials Characterization
Livre 42 sur 70 : Chemical IndustriesVendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 21
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fair. No Jacket. Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Novel Applications of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials Lecture Notes in Physics, 204
Vendeur : books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 10,95
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBroschiert. Etat : Gut. 183 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten Bibliothek und kann die entsprechenden Kennzeichnungen aufweisen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 325.
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Synthesis/Characterization and Novel Applications of Molecular Sieve Materials (Volume 233)
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 1991
ISBN 10 : 1558991271 ISBN 13 : 9781558991279
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 5,76
Expédition à EUR 15,67
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Volume 233. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:1558991271.
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Hazardous Materials Characterization: Evaluation Methods, Procedures, and Considerations
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 18,57
Expédition à EUR 3,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Hazardous Materials Characterization: Evaluation Methods, Procedures, and Considerations
Vendeur : Textbooks_Source, Columbia, MO, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 18,64
Expédition à EUR 3,48
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 9 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. 1st Edition. Ships in a BOX from Central Missouri! May not include working access code. Will not include dust jacket. Has used sticker(s) and some writing or highlighting. UPS shipping for most packages, (Priority Mail for AK/HI/APO/PO Boxes).
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Characterization of Semiconductor Materials
Edité par McGraw Hill, New York, 1970
Vendeur : P.C. Schmidt, Bookseller, Kettering, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 8,99
Expédition à EUR 4,36
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHard Cover. Etat : Very Good. First Edition. a very good hardcover; an ex-library copy with usual markings; internally pages bright and clean; ---------- SATISFACTION GUARANTEED --------- FAST, COURTEOUS SERVICE ------ ALL ORDERS SHIPPED WITH DELIVERY CONFIRMATION; Size: 7 x 10". Ex-Library.
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Advanced Data Storage Materials and Characterization Techniques: Volume 803 (MRS Proceedings) Mijiritskii, Andrei; Ahner, Joachim W.; Levy, Jeremy and Hesselink, Lambertus
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2004
ISBN 10 : 1558997415 ISBN 13 : 9781558997417
Vendeur : A Squared Books (Don Dewhirst), South Lyon, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16,72
Expédition à EUR 5,66
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. Warrendale, 2004. Fine Condition. Blue paper covered boards; minimal edge wear; 8vo - over 7 3/4" - 9 3/4" Tall; no jacket. Interior clean and unmarked; 280 pages. ISBN: 1558997415.
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A Guide to Materials Characterization and Chemical Analysis
Vendeur : ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 22,96
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Characterization of Semiconductor Materials
Edité par McGraw Hill, New York, 1970
Vendeur : P.C. Schmidt, Bookseller, Kettering, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 9,88
Expédition à EUR 4,36
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHard Cover. Etat : Very Good. First Edition. a very good hardcover; an ex-library copy with usual markings; internally pages bright and clean; ---------- SATISFACTION GUARANTEED --------- FAST, COURTEOUS SERVICE ------ ALL ORDERS SHIPPED WITH DELIVERY CONFIRMATION; Size: 7 x 10". Ex-Library.
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Microstructural Characterization of Materials
Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 23,55
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
