Mems reliability (30 résultats)
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Taschenbuch. Etat : Neu. MEMS Reliability | Allyson L. Hartzell (u. a.) | Taschenbuch | MEMS Reference Shelf | xiii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461427360 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competit…ive advantage and are reluctant to share it.MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competitive adv…antage and are reluctant to share it.MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.
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Langue : chinois
Edité par 3 Pub Southeast University . Date :2009-03-01, 2009
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paperback. Etat : New. Ship out in 2 business day, And Fast shipping, Free Tracking number will be provided after the shipment.Paperback. Pages Number: 246 Publisher: Southeast University. 3 Pub. Date :2009-03-01. This book is the first international field of MEMS reliability of this monograph is divided into two part. The first… part discusses the reliability of MEMS materials. content and main characterization methods. including the reliability of MEMS materials. micro-and nano indenter. bulging test. bending test. uniaxial tensile stress test. chip test; second part discusses the reliability of MEMS devices . including the reliability of pressure sensors. inertial sensors reliability. RFMEMS reliability and optical MEMS reliability. Innovative. data enrichment. for MEMS. microelectronics. optoelectronics. sensors. communications technology. the high school students. graduate students and engineering officers. Contents: Overview: MEMS reliability Introduction 1MEMS mechanical properties of materials evaluation and evaluation criteria 1.1 Introduction 1.2 The mechanical properties of thin-film material with elastic properties MEMS1.2.1 stress 1.2.3 1.2.2 1.2.4 Fatigue strength evaluation of mechanical properties of the key 1.3 question test method 1.3.3 1.3.2 1.3.1 sample film tensile test method standard 1.4 integrated tensile test method than 1.4.1 Sample design 1.4.2 Sample preparation 1.4.5 1.4.4 1.4.3 Material results 1.4 .5.1 polycrystalline silicon and titanium 1.4.6 1.4.5.3 1.4.5.2 Nickel discussion 1.5MEMS materials of international standards 1.5.1 MEMS micro standardization bodies 1.5.1.1IEC1.5.1.2 ASTMInternational1.5.1.3SEMl1.5.1.4 Japan uniaxial mechanical stress testing center -1.5.2 film of international standard 1.6 Conclusion References 2 homogeneous coating a substrate material and the elastic-plastic composite material pressed into contact with micro-nano mechanics 2.1 Introduction 2.2 2.3 indenter load and pressure on people the relationship between indentation depth 2.4 coneFour Satisfaction guaranteed,or money back.
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paperback. Etat : New. Ship out in 2 business day, And Fast shipping, Free Tracking number will be provided after the shipment.Paperback. Pub Date :2012-11-01 Pages: 220 Language: Chinese Publisher: Electronic Industry Press Information Title : MEMS Reliability Price: 55 yuan Author: (U.S. ) Hartzell Publisher: Electronic Indust…ry Publishing Date :2012-11-1ISBN: 9787121188053 words: 378.000 yards : 220 Edition : 1 Binding: Paperback Folio: 16 product ID: Editor's Choice no Summary This book is about the MEMS reliability of a monograph . the main contents include : The reliability of statistical theory for life predic.Four Satisfaction guaranteed,or money back.
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the informati…on as a competitive advantage and are reluctant to share it.MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing. 308 pp. Englisch.
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Demonstrates how to design MEMs for reliability during the product life cycle focusing CAD methodologies and system level architectureProvides detailed information on the different types of failure modes, including but no…t limited to, design failures, manuf.
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