Microscopic techniques non expert (23 résultats)

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    Edité par Springer, 2023

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    Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2023

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2023

    3030995445 / 9783030995447

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    Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer Nature Switzerland AG, Cham, 2022

    3030995410 / 9783030995416

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    Vendeur : Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Etats-UnisGrand Eagle Retail

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    Hardcover. Etat : new. Hardcover. This book covers fundamental microscopic techniques for Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM), Atomic Force Microscopy (AFM), and other microscopic tools. It provides step-by-step instructions and explanations of the basic fundamental concepts and mechanisms

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2022

    3030995410 / 9783030995416

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    Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections

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    Langue : anglais

    Edité par Springer, 2023

    3030995445 / 9783030995447

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    Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu

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    Taschenbuch. Etat : Neu. Microscopic Techniques for the Non-Expert | Sathish-Kumar Kamaraj (u. a.) | Taschenbuch | xii | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9783030995447 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

  • Langue : anglais

    Edité par Springer International Publishing, 2023

    3030995445 / 9783030995447

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    Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH

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    Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers fundamental microscopic techniques for Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM), Atomic Force Microscopy (AFM), and other microscopic tools. It provides step-by-step instructions and explanations of th

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2022

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2023

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    Vendeur : Buchpark, Trebbin, AllemagneBuchpark

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    Etat: Occasion

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    Etat : Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 260 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book covers fundamental microscopic techniques for Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM), Atomic Force Microscopy (AFM), and other microscopic tools. It provides step-by-step instructions

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2022

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    Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle

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    EUR 3,50 expédition 
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    Etat : New. 1st ed. 2022 edition NO-PA16APR2015-KAP.

  • Langue : anglais

    Edité par Springer International Publishing, 2022

    3030995410 / 9783030995416

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    Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers fundamental microscopic techniques for Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM), Atomic Force Microscopy (AFM), and other microscopic tools. It provides step-by-step instructions and explanations of the basic

  • Langue : anglais

    Edité par Springer Nature, 2022

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    Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books

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    Edité par Springer Nature Switzerland AG, Cham, 2022

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    Vendeur : AussieBookSeller, Truganina, VIC, AustralieAussieBookSeller

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    Hardcover. Etat : new. Hardcover. This book covers fundamental microscopic techniques for Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM), Atomic Force Microscopy (AFM), and other microscopic tools. It provides step-by-step instructions and explanations of the basic fundamental concepts and mechanisms

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2023

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    Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItalieBrook Bookstore On Demand

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer International Publishing Jun 2023, 2023

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    Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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    Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book covers fundamental microscopic techniques for Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM), Atomic Force Microscopy (AFM), and other microscopic tools. It provides step-by-step instructions and ex

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2023

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    Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer Nature, 2022

    3030995410 / 9783030995416

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    Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books

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    Hardcover. Etat : Brand New. 259 pages. 9.25x6.10x0.63 inches. In Stock. This item is printed on demand.

  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2023

    3030995445 / 9783030995447

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    Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer, Springer Jun 2023, 2023

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    Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer International Publishing Jun 2022, 2022

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    Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer, Springer Jun 2022, 2022

    3030995410 / 9783030995416

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    Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2022

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    Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books

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  • Langue : anglais

    Edité par Springer, 2022

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    Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios

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