Montant total (1 article articles) :
Destination de la commande :
model based testing embedded systems (13 résultats)
Commentaires
Passer aux résultats principaux de la recherche
Filtres de recherche
Type d'article
- Tous les types de produits
- Livres (13)
- Magazines & Périodiques (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Bandes dessinées (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Partitions de musique (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Art, Affiches et Gravures (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Photographies (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Cartes (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Manuscrits & Papiers anciens (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Etat En savoir plus
- Neuf (12)
- Comme neuf, Très bon ou Bon (1)
- Assez bon ou satisfaisant (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Moyen ou mauvais (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Conformément à la description (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Particularités
- Ed. originale (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Signé (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Jaquette (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Avec images (2)
- Sans impressions à la demande (10)
Langue (1)
Prix
- Tous les prix
- Moins de EUR 20 (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- EUR 20 à EUR 45 (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Plus de EUR 45
Livraison gratuite
- Livraison gratuite à destination de France (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Pays
Evaluation du vendeur
-
MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 86,15
Autre deviseEUR 7,66 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 688.
-
MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 86,66
Autre deviseEUR 10,12 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 688.
-
MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 92,22
Autre deviseEUR 7,95 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 688.
-
MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 102,76
Autre deviseEUR 11,43 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. reprint edition. 688 pages. 10.00x7.01x1.50 inches. In Stock.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems (Computational Analysis, Synthesis, and Design of Dynamic Systems)
Vendeur : dsmbooks, Liverpool, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 151,24
Autre deviseEUR 28,58 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : New. New. book.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems (Computational Analysis, Synthesis, and Design of Dynamic Systems)
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 199,93
Autre deviseEUR 10,85 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : New.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 212,05
Autre deviseEUR 7,66 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. xxvii + 660 Index.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems (Computational Analysis, Synthesis, and Design of Dynamic Systems)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 250,78
Autre deviseEUR 28,58 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Like New. Like New. book.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 286,60
Autre deviseEUR 11,43 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 688 pages. 10.50x7.50x1.25 inches. In Stock.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 302,69
Autre deviseEUR 7,95 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. xxvii + 660.
-
EUR 91,74
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Justyna Zander is a postdoctoral research scientist at Harvard University (Harvard Humanitarian Initiative) in Cambridge (Boston Area) MA, USA (since 2009) and Project Manager at the Fraunhofer Institute for Open Communication Systems in.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 221,52
Autre deviseEUR 10,12 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. xxvii + 660 Illus. This item is printed on demand.
-
EUR 265,89
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Justyna Zander is a postdoctoral research scientist at Harvard University (Harvard Humanitarian Initiative) in Cambridge (Boston Area) MA, USA (since 2009) and Project Manager at the Fraunhofer Institute for Open Communication Systems in.
