Principles analytical electron microscopy (40 résultats)
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Vendeur : BooksRun, Philadelphia, PA, Etats-UnisBooksRun
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Fair. 1986. The item might be beaten up but readable. May contain markings or highlighting, as well as stains, bent corners, or any other major defect, but the text is not obscured in any way.
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Vendeur : Better World Books: West, Reno, NV, Etats-UnisBetter World Books: West
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Etat : Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-UnisHPB-Red
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EUR 3,24 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
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EUR 3,24 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
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Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-UnisThriftBooks-Dallas
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Very Good. No Jacket. Missing dust jacket; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Hardcover. Etat : Good. hardback book in good condition,upper corner near rear panel has slight moist air exposure.
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Vendeur : books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Allemagnebooks4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG)
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EUR 19,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
gebundene Ausgabe. Etat : Gut. 448 Seiten Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet. Einbandkanten sind leicht bestoßen. Leichte altersbedingte Anbräunung des Papiers.…In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1005.
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 2,28 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 14,01 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 55,03
EUR 17,55 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 17,55 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 166,09
EUR 14,01 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 14,01 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Vendeur : liu xing, Nanjing, JS, Chineliu xing
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EUR 15,56 expéditionExpédition depuis Chine vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
paperback. Etat : New. Paperback.Pub Date:2022-03-01 Pages:500 Language:Chinese Publisher:Electronic Industry Press This book introduces the basic principles of scanning electron microscopes and energy spectrometers and some typical examples in practical work from the perspective of application. application. Whole book is divide…d into upper. lower two and some relevant appendices. The first part includes chapters 1 to 9. It mainly discusses the principle. structure. operation points and several common image quality.
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EUR 3,45 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 468.
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EUR 3,45 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 468.
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EUR 63,52 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since the publication in 1979 of Introduction to Analytical Electron Microscopy (ed. J. J. Hren, J. I. Goldstein, and D. C. Joy; Plenum Press), analytical electron microscopy has continued to evolve and mature both as a topic for fundamental scientific… investigation and as a tool for inorganic and organic materials characterization. Significant strides have been made in our understanding of image formation, electron diffraction, and beam/specimen interactions, both in terms of the 'physics of the processes' and their practical implementation in modern instruments. It is the intent of the editors and authors of the current text, Principles of Analytical Electron Microscopy, to bring together, in one concise and readily accessible volume, these recent advances in the subject. The text begins with a thorough discussion of fundamentals to lay a foundation for today's state-of-the-art microscopy. All currently important areas in analytical electron microscopy-including electron optics, electron beam/specimen interactions, image formation, x-ray microanalysis, energy-loss spectroscopy, electron diffraction and specimen effects-have been given thorough attention. To increase the utility of the volume to a broader cross section of the scientific community, the book's approach is, in general, more descriptive than mathematical. In some areas, however, mathematical concepts are dealt with in depth, increasing the appeal to those seeking a more rigorous treatment of the subject.
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 168,73
EUR 64,32 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since the publication in 1979 of Introduction to Analytical Electron Microscopy (ed. J. J. Hren, J. I. Goldstein, and D. C. Joy; Plenum Press), analytical electron microscopy has continued to evolve and mature both as a topic for fundamental scientific invest…igation and as a tool for inorganic and organic materials characterization. Significant strides have been made in our understanding of image formation, electron diffraction, and beam/specimen interactions, both in terms of the 'physics of the processes' and their practical implementation in modern instruments. It is the intent of the editors and authors of the current text, Principles of Analytical Electron Microscopy, to bring together, in one concise and readily accessible volume, these recent advances in the subject. The text begins with a thorough discussion of fundamentals to lay a foundation for today's state-of-the-art microscopy. All currently important areas in analytical electron microscopy-including electron optics, electron beam/specimen interactions, image formation, x-ray microanalysis, energy-loss spectroscopy, electron diffraction and specimen effects-have been given thorough attention. To increase the utility of the volume to a broader cross section of the scientific community, the book's approach is, in general, more descriptive than mathematical. In some areas, however, mathematical concepts are dealt with in depth, increasing the appeal to those seeking a more rigorous treatment of the subject.
Principles of Analytical Electron Microscopy
Goldstein, Joseph (Editor) / Joy, David C. (Editor) / Romig Jr., Alton D. (Editor)
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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EUR 14,62 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Paperback. Etat : Brand New. reprint edition. 464 pages. 9.26x6.11x1.20 inches. In Stock.
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 231,34
EUR 29,25 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 259,06
EUR 29,25 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Very Good. Dust Jacket may NOT BE INCLUDED.CDs may be missing. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Vendeur : liu xing, Nanjing, JS, Chineliu xing
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EUR 15,56 expéditionExpédition depuis Chine vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
paperback. Etat : New. Paperback.Pub Date:2022-03-01 Pages:500 Language:Chinese Publisher:Electronic Industry Press This book introduces the basic principles of scanning electron microscopes and energy spectrometers and some typical examples in practical work from the perspective of application. application. Whole book is divide…d into upper. lower two and some relevant appendices. The first part includes chapters 1 to 9. It mainly discusses the principle. structure. operation points and several common image quality.
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Since the publication in 1979 of Introduction to Analytical Electron Microscopy (ed. J. J. Hren, J. I. Goldstein, and D. C. Joy; Plenum Press), analytical electron microscopy has continued to evolve and mature both as a topic for fundamental s…cientific investigation and as a tool for inorganic and organic materials characterization. Significant strides have been made in our understanding of image formation, electron diffraction, and beam/specimen interactions, both in terms of the 'physics of the processes' and their practical implementation in modern instruments. It is the intent of the editors and authors of the current text, Principles of Analytical Electron Microscopy, to bring together, in one concise and readily accessible volume, these recent advances in the subject. The text begins with a thorough discussion of fundamentals to lay a foundation for today's state-of-the-art microscopy. All currently important areas in analytical electron microscopy-including electron optics, electron beam/specimen interactions, image formation, x-ray microanalysis, energy-loss spectroscopy, electron diffraction and specimen effects-have been given thorough attention. To increase the utility of the volume to a broader cross section of the scientific community, the book's approach is, in general, more descriptive than mathematical. In some areas, however, mathematical concepts are dealt with in depth, increasing the appeal to those seeking a more rigorous treatment of the subject. 468 pp. Englisch.
