Progress nanoscale characterization manipulation (18 résultats)
Langue : anglais
Edité par Singapore, Springer, 2018
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Hardcover. Etat : Gut. VII, 508. 333 illus., 26 illus. in color Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02774 9789811304538 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1150.
Langue : anglais
Edité par Springer Nature Singapore, 2018
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Etat : Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 516 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanaly…sis, and examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2019
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Edité par Springer, 2019
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Etat : New. pp. 515 Softcover reprint of the original 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
Autres imagesLangue : anglais
Edité par Springer, 2019
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Taschenbuch. Etat : Neu. Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation | Rongming Wang (u. a.) | Taschenbuch | Springer Tracts in Modern Physics | vii | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9789811344206 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]…springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2018
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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Langue : anglais
Edité par Springer, Springer, 2019
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining the…ir crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field.
Langue : anglais
Edité par Springer, Springer, 2018
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their cruc…ial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field.
Langue : anglais
Edité par Springer Verlag, 2018
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Hardcover. Etat : Brand New. 508 pages. 9.25x6.25x1.75 inches. In Stock.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2018
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Hardcover. Etat : New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Langue : anglais
Edité par Springer Nature Singapore Jan 2019, 2019
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, a…nd examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field. 516 pp. Englisch.
Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
Wang, Rongming|Wang, Chen|Zhang, Hongzhou|Tao, Jing|Bai, Xuedong
Langue : anglais
Edité par Springer Singapore, 2019
Série : Livre 213 sur 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials researchShowcases recent advances in scanning electro…n mic.
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Edité par Springer, 2019
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2019
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Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios
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EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 515.
Langue : anglais
Edité par Springer, Springer Jan 2019, 2019
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Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials researchShowcases recent advances in scanning electron microscopy, trans…mission electron microscopy and helium ion microscopyExplores the growing opportunities in this field and introduces readers to state-of-the-art charged-particle microscopy techniquesSpringer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 516 pp. Englisch.
Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
Wang, Rongming|Wang, Chen|Zhang, Hongzhou|Tao, Jing|Bai, Xuedong
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Edité par Springer Singapore, 2018
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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials researchShowcases recent advances in scanni…ng electron mic.
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Edité par Springer Nature Singapore Sep 2018, 2018
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and exam…ining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field. 516 pp. Englisch.
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