Quantitative atomic resolution electron microscopy (10 résultats)

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  • Langue : anglais

    Edité par Academic Press, 2021

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  • Langue : anglais

    Edité par Academic Press, 2021

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  • Langue : anglais

    Edité par Academic Press, 2021

    0128246073 / 9780128246078

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    Expédition nationale : Etats-Unis

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  • Langue : anglais

    Edité par Academic Press, 2021

    0128246073 / 9780128246078

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    Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK

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  • Langue : anglais

    Edité par Elsevier Science Publishing Co Inc, US, 2021

    0128246073 / 9780128246078

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    Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-UniRarewaves.com USA

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    Hardback. Etat : New. Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Volume 217, the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods. Chapters in this release include Statistical parameter estimation theory, Efficient fitting algorithm, Statistics-based atom counting , Atom column detection, Optimal experiment design for nanoparticle atom-counting from ADF STEM images, and more.…

  • Langue : anglais

    Edité par Elsevier Science Publishing Co Inc, US, 2021

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    Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-UniRarewaves.com UK

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    Hardback. Etat : New. Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Volume 217, the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods. Chapters in this release include Statistical parameter estimation theory, Efficient fitting algorithm, Statistics-based atom counting , Atom column detection, Optimal experiment design for nanoparticle atom-counting from ADF STEM images, and more.…

  • Langue : anglais

    Edité par Academic Press, 2021

    0128246073 / 9780128246078

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    Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections

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  • Langue : anglais

    Edité par Elsevier Science, 2021

    0128246073 / 9780128246078

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    Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna

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    EUR 48,99 expédition 
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    Etat : New. Contains contributions from leading authorities on the subject matter Informs and updates on the latest developments in the field of imaging and electron physics Provides practitioners interested in microscopy, optics, image proce.

  • Langue : anglais

    Edité par Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2021

    0128246073 / 9780128246078

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    Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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    Etat: Neuf

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    Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Volume 217, the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods. Chapters in this release include Statistical parameter estimation theory, Efficient fitting algorithm, Statistics-based atom counting , Atom column detection, Optimal experiment design for nanoparticle atom-counting from ADF STEM images, and more. Englisch.…

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    Edité par Elsevier Inc, 2021

    0128246073 / 9780128246078

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    Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH

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    EUR 207,17

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    Buch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Volume 217, the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods. Chapters in this release include Statistical parameter estimation theory, Efficient fitting algorithm, Statistics-based atom counting , Atom column detection, Optimal experiment design for nanoparticle atom-counting from ADF STEM images, and more.…