Quantitative x ray diffractometry par zevin kimmel (6 résultats)
Langue : anglais
Edité par Springer Verlag, 1995
- Couverture rigide
Vendeur : Librairie Parrêsia, Figeac, FranceLibrairie Parrêsia
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EUR 59,92
EUR 32,50 expéditionExpédition depuis France vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible
Dec 06, 1995. Etat : Used: Good. Quantitative X-Ray Diffractometry | Zevin - Kimmel | Springer Verlag New-York Berlin, 1995, in-8° cartonnage éditeur de 372 pages. Couverture propre. Dos solide. Intérieur frais sans soulignage ou annotation. Exemplaire de bibliothèque : petit code barre en pied de 1re de couv., cotation au dos, rares et discrets petits tampons à l'intérieur de l'ouvrage. Très bon état général pour cet ouvrage. [T12].…
Langue : anglais
Edité par Springer, 2011
- Couverture souple
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 122,06
EUR 2,36 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2011
- Couverture souple
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-UnisCalifornia Books
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EUR 121,73
EUR 2,69 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2011
- Couverture souple
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 220,35
EUR 29,88 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible
Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2011
- Couverture souple
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 255,52
EUR 2,36 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer New York, 2011
- Couverture souple
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 92,27
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase.…
