Radiation effects soft errors (15 résultats)

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    Edité par World Scientific Publishing Company, 2004

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    Edité par World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2004

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    Edité par World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2004

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  • Langue : anglais

    Edité par World Scientific Publishing Company, 2004

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    Edité par World Scientific Publishing Company, 2004

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    Edité par World Scientific Publishing Company, 2004

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  • Langue : anglais

    Edité par World Scientific Publishing Company, 2004

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    Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections

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    Etat: Neuf

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  • Langue : anglais

    Edité par World Scientific Publishing Company, 2004

    9812389407 / 9789812389404

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    Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK

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    EUR 186,65

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    Etat : As New. Unread book in perfect condition.

  • Langue : anglais

    Edité par World Scientific Publishing Company, 2004

    9812389407 / 9789812389404

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    Vendeur : BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Etats-UnisBennettBooksLtd

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    Expédition nationale : Etats-Unis

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    hardcover. Etat : New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.

  • Langue : anglais

    Edité par World Scientific Publishing Co Pte Ltd, SG, 2004

    9812389407 / 9789812389404

    • Couverture rigide

    Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-UniRarewaves.com USA

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    Hardback. Etat : New. This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.…

  • Langue : anglais

    Edité par World Scientific Pub Co Inc, 2004

    9812389407 / 9789812389404

    • Couverture souple

    Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books

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    EUR 233,99

    EUR 14,82 expédition 
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    Paperback. Etat : Brand New. 338 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock.

  • Langue : anglais

    Edité par World Scientific Publishing Co Pte Ltd, SG, 2004

    9812389407 / 9789812389404

    • Couverture rigide

    Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-UniRarewaves.com UK

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    Etat: Neuf

    EUR 213,20

    EUR 77,09 expédition 
    Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

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    Hardback. Etat : New. This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.…

  • Langue : anglais

    Edité par World Scientific Publishing Company, 2004

    9812389407 / 9789812389404

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    Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna

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    EUR 141,85

    EUR 48,99 expédition 
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    Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnThis book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-ev.…

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    Langue : anglais

    Edité par World Scientific, 2004

    9812389407 / 9789812389404

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    Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu

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    EUR 147,10

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    Buch. Etat : Neu. RADIATION EFFECTS & SOFT ERRORS .(V34) | Schrimpf R D | Buch | Gebunden | Englisch | 2004 | World Scientific | EAN 9789812389404 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.

  • Langue : anglais

    Edité par World Scientific, 2004

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    Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.…