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Evaluation du vendeur
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reliability of embedded systems design(Chinese Edition)
Edité par Electronic Industry Press, 1991
ISBN 10 : 7121021234 ISBN 13 : 9787121021237
EUR 51,12
Expédition à EUR 15,50
Expédition depuis Chine vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierpaperback. Etat : New. Language:Chinese.Paperback. Publisher: Electronic Industry Press. Book introduces the basic essentials on the basis of reliability. from the perspective of the reliability engineering.
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Reliability of embedded systems design techniques and case analysis (2nd Edition)(Chinese Edition)
Langue: chinois
Edité par Beijing University of Aeronautics and Astronautics Press, 2015
ISBN 10 : 7512418949 ISBN 13 : 9787512418943
EUR 64,52
Expédition à EUR 15,50
Expédition depuis Chine vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierpaperback. Etat : New. Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2015-11-01 Publisher: Beijing University of Aeronautics and Astronautics Press Embedded system reliability design technology and case analysis (2nd Edition) describes the embedded system design. where most likely to bring reliable sexual problems. as well as on how to design prevention. Content includes: startup and steady operation state of stress and differences in the reliability of the basic knowledge and methods; derating parameters and selection met.
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reliability of embedded systems design
Edité par Electronic Industry Press, 1991
ISBN 10 : 7121021234 ISBN 13 : 9787121021237
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 228,44
Expédition à EUR 28,88
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierpaperback. Etat : Good. Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Blog the scripture library books: embedded systems reliability design techniques and case analysis(Chinese Edition)
Langue: chinois
ISBN 10 : 7512408226 ISBN 13 : 9787512408227
EUR 62,08
Expédition à EUR 15,50
Expédition depuis Chine vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierpaperback. Etat : New. Paperback. Pub Date: 2012 07 Pages: 247 Language: Chinese in Publisher: Beijing University of Aeronautics and Astronautics Press Series blog : embedded system reliability design techniques and case analysis and describes the design of embedded systems. and which where the most potential reliability hazards. as well as how to design prevention. The contents include: the reliability of the basic knowledge and methods of the stress state differences in the boot process and steady-state operation.
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Mapping Techniques for Embedded Systems Design | With Reliability Considerations
Langue: espagnol
Edité par Editorial Académica Española, 2017
ISBN 10 : 620223394X ISBN 13 : 9786202233941
EUR 54,90
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Mapping Techniques for Embedded Systems Design | With Reliability Considerations | Freddy Bolaños | Taschenbuch | Spanisch | 2017 | Editorial Académica Española | EAN 9786202233941 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Mapping Techniques for Embedded Systems Design : With Reliability Considerations
Langue: espagnol
Edité par Editorial Académica Española, 2017
ISBN 10 : 620223394X ISBN 13 : 9786202233941
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 65,68
Expédition à EUR 61,28
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Network on Chip (NoC) arises as a scalable approach for high-performance embedded systems design. However, by using an entire communication network inside a integrated circuit rises new challenges. This book describes the task mapping problem for NoC, and proposes a solution based on the Population-Based Incremental Learning Algorithm. Several tests were performed to such algorithm and a Reliability figure of merit was integrated as an optimization criterium, for the sake of provide dependable behavior to the mapped application.
