Statistical analysis measurement errors par jaech john (1 résultats)

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  • Edité par John Wiley & Sons, New York, 1985

    • Couverture rigide

    Vendeur : The Chatham Bookseller, Madison, NJ, Etats-UnisThe Chatham Bookseller

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    Expédition nationale : Etats-Unis

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    Cloth. xxiii, 293p. A near fine copy with a previous owner's name and date in ink on ffep in a near fine, but slightly faded dj. An Exxon Monograph. Size: 8vo. Book.