Statistical modeling computer aided design par michael christopher (19 résultats)
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 3,49 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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EUR 3,49 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 212.
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Gebunden. Etat : New. As MOS devices are scaled to meet increasingly demanding circuit specifications, process variations have a greater effect on the reliability of circuit performance. For this reason, statistical techniques are required to design integrated circuits with m.
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Vendeur : moluna, Greven, , Allemagnemoluna
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EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. As MOS devices are scaled to meet increasingly demanding circuit specifications, process variations have a greater effect on the reliability of circuit performance. For this reason, statistical techniques are required to design integrated circuits with m.
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 17,39 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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Hardcover. Etat : Like New. Like New. book.
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 28,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Etat : Neu. Neuware - As MOS devices are scaled to meet increasingly demanding circuit specifications, process variations have a greater effect on the reliability of circuit performance. For this reason, statistical techniques are required to design integrated circuits with maximum yield. Statistical Modeling for Co…mputer-Aided Design of MOS VLSI Circuits describes a statistical circuit simulation and optimization environment for VLSI circuit designers. The first step toward accomplishing statistical circuit design and optimization is the development of an accurate CAD tool capable of performing statistical simulation. This tool must be based on a statistical model which comprehends the effect of device and circuit characteristics, such as device size, bias, and circuit layout, which are under the control of the circuit designer on the variability of circuit performance. The distinctive feature of the CAD tool described in this book is its ability to accurately model and simulate the effect in both intra- and inter-die process variability on analog/digital circuits, accounting for the effects of the aforementioned device and circuit characteristics. Statistical Modeling for Computer-Aided Design of MOS VLSI Circuits serves as an excellent reference for those working in the field, and may be used as the text for an advanced course on the subject.
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 62,45 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. Neuware - As MOS devices are scaled to meet increasingly demanding circuit specifications, process variations have a greater effect on the reliability of circuit performance. For this reason, statistical techniques are required to design integrated circuits with maximum yield. Statistical Modeling for Computer-…Aided Design of MOS VLSI Circuits describes a statistical circuit simulation and optimization environment for VLSI circuit designers. The first step toward accomplishing statistical circuit design and optimization is the development of an accurate CAD tool capable of performing statistical simulation. This tool must be based on a statistical model which comprehends the effect of device and circuit characteristics, such as device size, bias, and circuit layout, which are under the control of the circuit designer on the variability of circuit performance. The distinctive feature of the CAD tool described in this book is its ability to accurately model and simulate the effect in both intra- and inter-die process variability on analog/digital circuits, accounting for the effects of the aforementioned device and circuit characteristics. Statistical Modeling for Computer-Aided Design of MOS VLSI Circuits serves as an excellent reference for those working in the field, and may be used as the text for an advanced course on the subject.
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, , Royaume-UniMajestic Books
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EUR 7,54 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. Print on Demand pp. 212 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, , Royaume-UniMajestic Books
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EUR 7,54 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. Print on Demand pp. 212 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios
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EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 212.
