Syntactic structural pattern recognition (171 résultats)
Langue : anglais
Edité par Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K, 1988
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EUR 6,17
EUR 16,50 expéditionExpédition depuis France vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Etat : Good. 467 pp., hardcover, ex library else text clean & binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2021
Série : Lecture Notes in Computer Science, Livre 88 sur 129. Livre 88 sur 129 - Lecture Notes in Computer Science
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EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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EUR 53,49
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Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
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EUR 54,72
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2018
Série : Lecture Notes in Computer Science, Livre 18 sur 300. Livre 18 sur 300 - Lecture Notes in Computer Science
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 54,72
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, Proceedings
Gimel'Farb, Georgy (EDT); Hancock, Edwin (EDT); Imiya, Atsushi (EDT); Kuijper, Arjan (EDT); Kudo, Mineichi (EDT)
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EUR 57,80
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Vendeur : Wissenschaftl. Antiquariat Th. Haker e.K, Klettgau, AllemagneWissenschaftl. Antiquariat Th. Haker e.K
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EUR 18,70
EUR 40,26 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
hardcover. Etat : Wie neu. 486 p. Like new. ISBN: 9783540192091 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1026.
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Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-UnisCalifornia Books
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2021
Série : Lecture Notes in Computer Science, Livre 88 sur 129. Livre 88 sur 129 - Lecture Notes in Computer Science
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Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-UnisCalifornia Books
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EUR 61,33
Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2021
Série : Lecture Notes in Computer Science, Livre 88 sur 129. Livre 88 sur 129 - Lecture Notes in Computer Science
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 61,55
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 61,55
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2018
Série : Lecture Notes in Computer Science, Livre 18 sur 300. Livre 18 sur 300 - Lecture Notes in Computer Science
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 62,93
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 60,72
EUR 13,90 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 60,72
EUR 13,90 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2018
Série : Lecture Notes in Computer Science, Livre 18 sur 300. Livre 18 sur 300 - Lecture Notes in Computer Science
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 60,72
EUR 13,90 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 60,72
EUR 13,90 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 60,72
EUR 13,90 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2021
Série : Lecture Notes in Computer Science, Livre 88 sur 129. Livre 88 sur 129 - Lecture Notes in Computer Science
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 60,72
EUR 13,90 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 60,72
EUR 13,90 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly
Langue : anglais
Edité par Springer 2018-08-02, 2018
Série : Lecture Notes in Computer Science, Livre 18 sur 300. Livre 18 sur 300 - Lecture Notes in Computer Science
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Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-UniChiron Media
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EUR 57,36
EUR 17,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
Paperback. Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Pasi Fr�nti, Francisco Escolano, Marcello Pelillo, Marco Loog, Gavin Brown
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Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-UniChiron Media
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EUR 57,29
EUR 17,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
Paperback. Etat : New.
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Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-UniChiron Media
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EUR 57,45
EUR 17,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
PF. Etat : New.
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Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-UniChiron Media
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EUR 57,60
EUR 17,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
Paperback. Etat : New.
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Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-UniChiron Media
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EUR 57,40
EUR 17,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
Paperback. Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 60,25
EUR 17,41 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2018
Série : Lecture Notes in Computer Science, Livre 18 sur 300. Livre 18 sur 300 - Lecture Notes in Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 60,32
EUR 17,41 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 60,42
EUR 17,41 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2021
Série : Lecture Notes in Computer Science, Livre 88 sur 129. Livre 88 sur 129 - Lecture Notes in Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 60,71
EUR 17,41 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, Proceedings
Gimel'Farb, Georgy (EDT); Hancock, Edwin (EDT); Imiya, Atsushi (EDT); Kuijper, Arjan (EDT); Kudo, Mineichi (EDT)
- Couverture souple
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 60,56
EUR 17,41 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
