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test resource partitioning system on a chip de iyengar vikram (25 résultats)
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Test Resource Partitioning For System-on-a-chip
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 94,75
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Vendeur : ALLBOOKS1, Direk, SA, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,10
Autre deviseGratuit expédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 102,32
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 102,58
Autre deviseEUR 3,42 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 102,91
Autre deviseEUR 3,42 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Hardcover)
Edité par Kluwer Academic Publishers, New York, NY, 2002
ISBN 10 : 1402071191 ISBN 13 : 9781402071195
Langue: anglais
Vendeur : Grand Eagle Retail, Mason, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 117,98
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Hardcover. This work explores test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into "virtual sockets" on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic. SOC integrated circuits composed of embedded cores are commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols. This text responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation.It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume. It aims to pave the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 121,70
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 111,65
Autre deviseEUR 13,80 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 122,59
Autre deviseEUR 3,42 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 252.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-chip
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 127,43
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 115,80
Autre deviseEUR 13,80 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 112,48
Autre deviseEUR 17,84 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : New.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 115,79
Autre deviseEUR 17,27 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 127,41
Autre deviseEUR 7,49 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 252 Illus.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-chip
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 133,12
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 139,09
Autre deviseEUR 3,42 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 248.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 129,98
Autre deviseEUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 127,76
Autre deviseEUR 17,27 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 118,64
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfac.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 176,74
Autre deviseEUR 28,79 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Hardcover)
Edité par Kluwer Academic Publishers, New York, NY, 2002
ISBN 10 : 1402071191 ISBN 13 : 9781402071195
Langue: anglais
Vendeur : AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 192,95
Autre deviseEUR 31,75 expédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Hardcover. This work explores test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into "virtual sockets" on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic. SOC integrated circuits composed of embedded cores are commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols. This text responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation.It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume. It aims to pave the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 162,93
Autre deviseEUR 62,66 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Neuware - Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements.
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EUR 92,27
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 145,81
Autre deviseEUR 7,49 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 148,39
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