Total least squares errors in variables (26 résultats)
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Paperback. Etat : Brand New. 412 pages. 9.25x6.25x0.92 inches. In Stock.
Langue : anglais
Edité par Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2010
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In response to a growing interest in Total Least Squares (TLS) and Errors-In-Variables (EIV) modeling by researchers and practitioners, well-known experts from several disciplines were invited to prepare an overview paper and present it at the third in…ternational workshop on TLS and EIV modeling held in Leuven, Belgium, August 27-29, 2001. These invited papers, representing two-thirds of the book, together with a selection of other presented contributions yield a complete overview of the main scientific achievements since 1996 in TLS and Errors-In-Variables modeling. In this way, the book nicely completes two earlier books on TLS (SIAM 1991 and 1997). Not only computational issues, but also statistical, numerical, algebraic properties are described, as well as many new generalizations and applications. Being aware of the growing interest in these techniques, it is a strong belief that this book will aid and stimulate users to apply the new techniques and models correctly to their own practical problems.
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In response to a growing interest in Total Least Squares (TLS) and Errors-In-Variables (EIV) modeling by researchers and practitioners, well-known experts from several disciplines were invited to prepare an overview paper and present it at the third internati…onal workshop on TLS and EIV modeling held in Leuven, Belgium, August 27-29, 2001. These invited papers, representing two-thirds of the book, together with a selection of other presented contributions yield a complete overview of the main scientific achievements since 1996 in TLS and Errors-In-Variables modeling. In this way, the book nicely completes two earlier books on TLS (SIAM 1991 and 1997). Not only computational issues, but also statistical, numerical, algebraic properties are described, as well as many new generalizations and applications. Being aware of the growing interest in these techniques, it is a strong belief that this book will aid and stimulate users to apply the new techniques and models correctly to their own practical problems.
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Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Recent Advances in Total Least Squares Techniques & Errors in Variables Modeling (Siam Proceedings in Applied Mathematics Ser. ; Vol. Pr 93))
International Workshop on Total Least Squares and Errors-in-
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In response to a growing interest in Total Least Squares (TLS) and Errors-In-Variables (EIV) modeling by researchers and practitioners, well-known experts from several disciplines were invited to prepare an overview paper and present it… at the third international workshop on TLS and EIV modeling held in Leuven, Belgium, August 27-29, 2001. These invited papers, representing two-thirds of the book, together with a selection of other presented contributions yield a complete overview of the main scientific achievements since 1996 in TLS and Errors-In-Variables modeling. In this way, the book nicely completes two earlier books on TLS (SIAM 1991 and 1997). Not only computational issues, but also statistical, numerical, algebraic properties are described, as well as many new generalizations and applications. Being aware of the growing interest in these techniques, it is a strong belief that this book will aid and stimulate users to apply the new techniques and models correctly to their own practical problems. 412 pp. Englisch.
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In response to a growing interest in Total Least Squares (TLS) and Errors-In-Variables (EIV) modeling by researchers and practitioners, well-known experts from several disciplines were invited to prepare an overview paper and present it at the… third international workshop on TLS and EIV modeling held in Leuven, Belgium, August 27-29, 2001. These invited papers, representing two-thirds of the book, together with a selection of other presented contributions yield a complete overview of the main scientific achievements since 1996 in TLS and Errors-In-Variables modeling. In this way, the book nicely completes two earlier books on TLS (SIAM 1991 and 1997). Not only computational issues, but also statistical, numerical, algebraic properties are described, as well as many new generalizations and applications. Being aware of the growing interest in these techniques, it is a strong belief that this book will aid and stimulate users to apply the new techniques and models correctly to their own practical problems. 412 pp. Englisch.
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. In response to a growing interest in Total Least Squares (TLS) and Errors-In-Variables (EIV) modeling by researchers and practitioners, well-known experts from several disciplines were invited to prepare an overview paper… and present it at the third int.
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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. In response to a growing interest in Total Least Squares (TLS) and Errors-In-Variables (EIV) modeling by researchers and practitioners, well-known experts from several disciplines were invited to prepare an over…view paper and present it at the third int.
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Etat : New. Print on Demand pp. 412 Illus.
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Etat : New. Print on Demand pp. 410 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios
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Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 412.
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EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 410.
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Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -In response to a growing interest in Total Least Squares (TLS) and Errors-In-Variables (EIV) modeling by researchers and practitioners, well-known experts from several disciplines were invited to prepare an overview paper and present it at the thi…rd international workshop on TLS and EIV modeling held in Leuven, Belgium, August 27-29, 2001. These invited papers, representing two-thirds of the book, together with a selection of other presented contributions yield a complete overview of the main scientific achievements since 1996 in TLS and Errors-In-Variables modeling. In this way, the book nicely completes two earlier books on TLS (SIAM 1991 and 1997). Not only computational issues, but also statistical, numerical, algebraic properties are described, as well as many new generalizations and applications. Being aware of the growing interest in these techniques, it is a strong belief that this book will aid and stimulate users to apply the new techniques and models correctly to their own practical problems.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 412 pp. Englisch.
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EUR 60,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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EUR 60,57 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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