Use scanning refelction electron microscope par echlin patrick (1 résultats)

Auteur:

Titre:

Affiner les résultats avec une recherche avancée

The use of the scanning refelction electron microscope in the study
Echlin,Patrick
Vendeur : Clivia Mueller, Isernhagen, AllemagneClivia Mueller
Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles
Contacter le vendeur
Etat: Occasion
Bonne affaire
Prix actuel : EUR 5,03
EUR 24,10 expédition
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panier
of plant and microbial material (S. A. J. of the Royal Microscop. Soc. Vol. 88, Pt. 3) 1968. S. 407 - 418. m. zahlr. Abb. geklammert -2) -Sonderabdruck-.