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X-Ray Diffraction: Structure, Principles and Applications
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,34
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X-Ray Diffraction: Structure, Principles and Applications
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
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X-Ray Diffraction: Structure, Principles & Applications
Langue: anglais
Edité par Nova Science Publishers Inc, 2013
ISBN 10 : 1628085916 ISBN 13 : 9781628085914
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 170,79
Expédition à EUR 10,50
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Ajouter au panierEtat : New. Editor(s): Shih, Kaimin. Num Pages: 248 pages, illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (G) General (US: Trade). Dimension: 258 x 182 x 21. Weight in Grams: 690. . 2013. UK ed. Hardcover. . . . .
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X-Ray Diffraction : Structure, Principles and Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 189,38
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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X-Ray Diffraction : Structure, Principles and Applications
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 177,99
Expédition à EUR 17,37
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X-Ray Diffraction: Structure, Principles & Applications
Langue: anglais
Edité par Nova Science Publishers Inc, 2013
ISBN 10 : 1628085916 ISBN 13 : 9781628085914
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 212,86
Expédition à EUR 9,02
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Editor(s): Shih, Kaimin. Num Pages: 248 pages, illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (G) General (US: Trade). Dimension: 258 x 182 x 21. Weight in Grams: 690. . 2013. UK ed. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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X-Ray Diffraction : Structure, Principles and Applications
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 221,84
Expédition à EUR 17,37
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X-Ray Diffraction: Structure, Principles and Applications (Materials Science and Technologies)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 212,31
Expédition à EUR 28,95
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X-Ray Diffraction : Structure, Principles and Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 245,23
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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X-Ray Diffraction : Structure, Principles & Applications
Langue: anglais
Edité par Nova Science Publishers Inc Sep 2013, 2013
ISBN 10 : 1628085916 ISBN 13 : 9781628085914
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 197,33
Expédition à EUR 63,45
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Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Neuware - An important milestone in the history of science, the diffraction of X-rays, was observed by Max von Laue in 1912. In the last 100 years, X-ray diffraction (XRD) studies have revealed highly valuable information about many ordered atomic structures seen in a variety of common materials. The understanding of material structures opened the door to the reliable application of these materials and allowed scientific discussions about material properties and structural features to become possible. Besides playing this crucial role in history, XRD has now also successfully transformed itself into a method in the forefront of extending much of our knowledge boundaries. Written by more than 30 X-ray diffraction experts from 9 countries/regions, this book consists of 11 chapters examining the development of the XRD technique and demonstrating various new opportunities for its application. Each chapter discusses timely and important subjects surrounding the XRD technique, including the past and future of the single-crystal XRD technique and new explorations with co-ordination polymers; the very successful implementation of Rietveld refinement analysis for alloys, intermetallics, cements, and ceramics; the application of XRD in nanoparticles structure study; the methodological developments in quantifying the state of residual stress in materials; and the state-of-the-art progress in combining XRD principles with electron crystallography for structure determination.
