Yield modelling defect tolerance par moore will (1 résultats)

Auteur:

Titre:

Affiner les résultats avec une recherche avancée

Yield Modelling and Defect Tolerance in Vlsi
Moore, Will
Langue : anglais
Edité par Adam Hilger, 1988
085274398X / 9780852743980
- Couverture rigide
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
Vendeur avec une évaluation de 4 étoiles
Contacter le vendeur
Etat: Occasion - Comme neuf
EUR 309,99
EUR 29,28 expédition
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible
Hardcover. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.